缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110538279.9
申请日
2021-05-18
公开(公告)号
CN113379680A
公开(公告)日
2021-09-10
发明(设计)人
徐崚川
申请人
申请人地址
200062 上海市普陀区云岭东路89号2111-L室
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06K962 G06T7194 G06T790
代理机构
北京开阳星知识产权代理有限公司 11710
代理人
祝乐芳
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
蔡旗 ;
潘华东 ;
殷俊 ;
高美 ;
李中振 .
中国专利 :CN114219758A ,2022-03-22
[2]
缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
许文夏 ;
周璐 ;
李晶 .
中国专利 :CN114897806B ,2025-06-06
[3]
缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
许文夏 ;
周璐 ;
李晶 .
中国专利 :CN114897806A ,2022-08-12
[4]
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
侯宽旭 .
中国专利 :CN120725952A ,2025-09-30
[5]
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
徐英杰 ;
黄雪峰 ;
杨超 .
中国专利 :CN120411071A ,2025-08-01
[6]
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
杨顺 .
中国专利 :CN114596242A ,2022-06-07
[7]
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
徐英杰 ;
黄雪峰 ;
杨超 .
中国专利 :CN120411071B ,2025-11-07
[8]
缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
蔡春晖 ;
蔡一峰 .
中国专利 :CN114463282B ,2024-10-22
[9]
缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
蔡春晖 ;
蔡一峰 .
中国专利 :CN114463282A ,2022-05-10
[10]
物体表面缺陷检测方法、装置、计算机可读存储介质和电子设备 [P]. 
钟成堡 ;
王长恺 ;
刘志昌 ;
程江昊 ;
王春龙 .
中国专利 :CN121032948A ,2025-11-28