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缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410382538.7
申请日：
2024-03-29
公开(公告)号：
CN120725952A
公开(公告)日：
2025-09-30
发明(设计)人：
侯宽旭
申请人：
宁德时代未来能源（上海）研究院有限公司 宁德时代新能源科技股份有限公司
申请人地址：
200241 上海市闵行区园美路58号1幢2层203、204室
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G01N21/88 G06T7/246 G06T7/73 G06T7/13
代理机构：
深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414
代理人：
甘莹
法律状态：
公开
国省代码：
福建省 宁德市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-30 公开 公开
2025-10-21 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240329
共 50 条
[1]
缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
许文夏 ;
周璐 ;
李晶 .
中国专利 :CN114897806B ,2025-06-06
[2]
缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
许文夏 ;
周璐 ;
李晶 .
中国专利 :CN114897806A ,2022-08-12
[3]
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
徐英杰 ;
黄雪峰 ;
杨超 .
中国专利 :CN120411071A ,2025-08-01
[4]
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
杨顺 .
中国专利 :CN114596242A ,2022-06-07
[5]
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
徐英杰 ;
黄雪峰 ;
杨超 .
中国专利 :CN120411071B ,2025-11-07
[6]
缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
徐崚川 .
中国专利 :CN113379680A ,2021-09-10
[7]
缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
蔡旗 ;
潘华东 ;
殷俊 ;
高美 ;
李中振 .
中国专利 :CN114219758A ,2022-03-22
[8]
检测方法、检测装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
林定佑 ;
廖有福 ;
蒋卫东 ;
郭昱庆 ;
罗坤林 ;
刘小婷 ;
易维 .
中国专利 :CN116105622B ,2025-09-30
[9]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
朱姗姗 ;
彭奕文 ;
王佳 .
中国专利 :CN111882541A ,2020-11-03
[10]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
朱姗姗 ;
彭奕文 ;
王佳 .
中国专利 :CN111882541B ,2024-11-12
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