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缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510779968.7
申请日：
2025-06-12
公开(公告)号：
CN120411071B
公开(公告)日：
2025-11-07
发明(设计)人：
徐英杰 黄雪峰 杨超
申请人：
深圳市信润富联数字科技有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市罗湖区清水河街道清水河社区清水河五路10号润启科技大厦2001
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06V10/80 G06V10/82 G06V10/26
代理机构：
深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481
代理人：
李杏娟
法律状态：
授权
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-11-07 授权 授权
2025-08-19 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250612
2025-08-01 公开 公开
共 50 条
[1]
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
徐英杰 ;
黄雪峰 ;
杨超 .
中国专利 :CN120411071A ,2025-08-01
[2]
缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
许文夏 ;
周璐 ;
李晶 .
中国专利 :CN114897806B ,2025-06-06
[3]
缺陷检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
许文夏 ;
周璐 ;
李晶 .
中国专利 :CN114897806A ,2022-08-12
[4]
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
侯宽旭 .
中国专利 :CN120725952A ,2025-09-30
[5]
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
杨顺 .
中国专利 :CN114596242A ,2022-06-07
[6]
缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
徐崚川 .
中国专利 :CN113379680A ,2021-09-10
[7]
检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
沈岗 ;
卢蒙 .
中国专利 :CN118447225A ,2024-08-06
[8]
缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
蔡旗 ;
潘华东 ;
殷俊 ;
高美 ;
李中振 .
中国专利 :CN114219758A ,2022-03-22
[9]
缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
蔡春晖 ;
蔡一峰 .
中国专利 :CN114463282B ,2024-10-22
[10]
缺陷检测方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
蔡春晖 ;
蔡一峰 .
中国专利 :CN114463282A ,2022-05-10
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