一种高密度BGA封装基板的平整度检测装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201720875756.X
申请日
2017-07-19
公开(公告)号
CN207180651U
公开(公告)日
2018-04-03
发明(设计)人
官章青
申请人
申请人地址
334600 江西省上饶市广丰区经开区芦洋产业园B区长青路11号
IPC主分类号
G01B2130
IPC分类号
B01D4600
代理机构
代理人
法律状态
专利权的终止
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共 50 条
[1]
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