半导体栅极结构

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201821685913.1
申请日
2018-10-17
公开(公告)号
CN208674126U
公开(公告)日
2019-03-29
发明(设计)人
不公告发明人
申请人
申请人地址
230601 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号
H01L29423
IPC分类号
H01L27108
代理机构
北京润平知识产权代理有限公司 11283
代理人
肖冰滨;刘兵
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件栅极结构的制造方法 [P]. 
吴汉明 .
中国专利 :CN101038870A ,2007-09-19
[2]
半导体结构/栅极结构制备方法、半导体结构及栅极结构 [P]. 
张冲 .
中国专利 :CN117766380A ,2024-03-26
[3]
屏蔽栅极沟槽半导体结构与屏蔽栅极沟槽半导体器件 [P]. 
刘坚 .
中国专利 :CN113889536B ,2025-01-24
[4]
屏蔽栅极沟槽半导体结构与屏蔽栅极沟槽半导体器件 [P]. 
刘坚 .
中国专利 :CN113889536A ,2022-01-04
[5]
栅极结构、具有栅极结构的半导体器件及形成栅极结构和半导体器件的方法 [P]. 
尹在万 ;
朴东健 ;
李忠浩 ;
吉田诚 ;
李哲 .
中国专利 :CN1658401A ,2005-08-24
[6]
半导体结构的制备方法、半导体结构及半导体器件 [P]. 
刘攀 ;
郭亮 ;
吴贤勇 ;
游国忠 .
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[7]
半导体器件栅极的制作方法 [P]. 
居建华 .
中国专利 :CN101770944A ,2010-07-07
[8]
用于半导体器件的栅极结构 [P]. 
巫凯雄 ;
简珮珊 ;
李泳达 ;
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[9]
栅极半导体结构 [P]. 
蔡镇宇 .
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[10]
半导体栅极结构 [P]. 
高玮 .
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