一种规模化芯片自动测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202023268486.7

申请日：

2020-12-30

公开(公告)号：

CN214097707U

公开(公告)日：

2021-08-31

发明(设计)人：

孔江文朱建兴

申请人：

申请人地址：

644000 四川省宜宾市翠屏区智能终端产业园A区1栋4楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

南京苏科专利代理有限责任公司 32102

代理人：

陈忠辉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-31	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片自动测试装置 [P].

周鑫淼 ;

高停 ;

李伟东 ;

江建宇 .

中国专利 :CN221303496U ,2024-07-09

[2]

芯片自动测试装置 [P].

潘文杰 .

中国专利 :CN204287254U ,2015-04-22

[3]

一种芯片自动测试装置 [P].

潘文杰 .

中国专利 :CN207964906U ,2018-10-12

[4]

一种芯片自动测试装置 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN208207148U ,2018-12-07

[5]

射频芯片自动测试装置 [P].

宋作奇 ;

孙佳林 ;

赫增裕 ;

张永康 ;

段少毅 ;

王宇飞 ;

刘沛 ;

周子棋 ;

牛宏伟 ;

张陈禹 ;

解红艳 ;

刘欢 ;

向兴婧 .

中国专利 :CN218213320U ,2023-01-03

[6]

一种自动测试装置 [P].

文义志 ;

周丙酉 ;

黄天福 ;

吴惠忠 .

中国专利 :CN209802399U ,2019-12-17

[7]

一种自动测试装置 [P].

方文杰 ;

耿佳 ;

邱永刚 ;

陈健 ;

衷存鹉 .

中国专利 :CN204177923U ,2015-02-25

[8]

芯片自动测试装置 [P].

舒慧君 ;

周彦杰 ;

王亦农 .

中国专利 :CN204044314U ,2014-12-24

[9]

芯片自动测试装置 [P].

潘文杰 .

中国专利 :CN104502641B ,2015-04-08

[10]

一种监控模块自动测试装置 [P].

胡小东 ;

王轶群 ;

陈文泽 ;

肖江涛 ;

吕孟帅 ;

胡红雨 ;

高飞扬 .

中国专利 :CN206696350U ,2017-12-01

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