一种数字逻辑自动测试装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910821735.3
申请日
2019-09-02
公开(公告)号
CN110750086A
公开(公告)日
2020-02-04
发明(设计)人
吴汉明 朱敏
申请人
申请人地址
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区荣华中路10号1幢A座17层1717
IPC主分类号
G05B2302
IPC分类号
G01R3128
代理机构
北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311
代理人
田明;杨方
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种数字电桥自动测试装置 [P]. 
林建明 .
中国专利 :CN218497033U ,2023-02-17
[2]
自动测试装置及方法 [P]. 
李刚 .
中国专利 :CN1746694A ,2006-03-15
[3]
一种自动测试装置及测试方法 [P]. 
鲁金林 ;
陈健 ;
吴永利 ;
魏杰 ;
汪伟 .
中国专利 :CN109031459A ,2018-12-18
[4]
一种自动测试装置及测试方法 [P]. 
鲁金林 ;
陈健 ;
吴永利 ;
魏杰 ;
汪伟 .
中国专利 :CN109031459B ,2024-01-09
[5]
自动测试装置及方法 [P]. 
吴成超 ;
段宁 .
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[6]
自动测试装置及其自动测试方法 [P]. 
郑吉宏 .
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[7]
自动测试方法及其自动测试装置 [P]. 
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[8]
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阮官方 .
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[9]
产品自动测试装置及方法 [P]. 
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[10]
芯片自动测试装置及方法 [P]. 
姜骥 ;
刘翔 ;
黄兢兢 ;
姜利军 .
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