X射线束流强度监控装置和X射线检查系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420867215.9

申请日：

2014-12-31

公开(公告)号：

CN204439843U

公开(公告)日：

2015-07-01

发明(设计)人：

康克军李树伟张清军李元景李玉兰赵自然刘以农刘耀红朱维彬赵晓琳何会绍

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华园

IPC主分类号：

G01T129

IPC分类号：

G01T1202

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038

代理人：

刘志强

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-07-01	授权	授权
2021-12-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01T 1/29 申请日:20141231 授权公告日:20150701 终止日期:20201231

共 50 条

[1]

X射线束流强度监控装置和X射线检查系统 [P].

康克军 ;

李树伟 ;

张清军 ;

李元景 ;

李玉兰 ;

赵自然 ;

刘以农 ;

刘耀红 ;

朱维彬 ;

赵晓琳 ;

何会绍 .

中国专利 :CN104516010A ,2015-04-15

[2]

X射线检查系统 [P].

李树伟 ;

张清军 ;

康克军 ;

李元景 ;

李玉兰 ;

赵自然 ;

刘以农 ;

刘耀红 ;

朱维彬 ;

赵晓琳 ;

何会绍 .

中国专利 :CN204439577U ,2015-07-01

[3]

X射线检查系统 [P].

李树伟 ;

张清军 ;

康克军 ;

李元景 ;

李玉兰 ;

赵自然 ;

刘以农 ;

刘耀红 ;

朱维彬 ;

赵晓琳 ;

何会绍 .

中国专利 :CN104515781A ,2015-04-15

[4]

X射线检查装置及X射线检查系统 [P].

宫崎格 ;

辻村映治 .

中国专利 :CN118731069A ,2024-10-01

[5]

X射线检查装置与X射线检查系统 [P].

金钟熙 .

韩国专利 :CN116057371B ,2025-08-29

[6]

X射线检查装置及X射线检查系统 [P].

宫崎格 ;

辻村映治 .

中国专利 :CN118731068A ,2024-10-01

[7]

X射线检查系统 [P].

S·P·比瓦尔 .

中国专利 :CN1099033C ,1998-05-06

[8]

X射线发生装置,X射线摄像装置及X射线检查系统 [P].

平野雅之 ;

川上博己 .

中国专利 :CN1278591C ,2002-05-22

[9]

X射线检查系统以及X射线接收装置 [P].

小林裕信 ;

住川健 ;

水谷博成 ;

横岛伸 ;

二阶堂羊司 .

中国专利 :CN110036283A ,2019-07-19

[10]

X射线检查系统 [P].

罗明生 ;

郑艳霞 .

中国专利 :CN302042131S ,2012-08-22

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