X射线检查系统以及X射线接收装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880004784.1

申请日：

2018-03-12

公开(公告)号：

CN110036283A

公开(公告)日：

2019-07-19

发明(设计)人：

小林裕信住川健水谷博成横岛伸二阶堂羊司

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G01N2304

IPC分类号：

G01V500

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-08-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/04 申请日:20180312
2022-04-05	专利权的视为放弃	专利权的视为放弃 IPC(主分类):G01N 23/04 放弃生效日:20220405
2019-07-19	公开	公开

共 50 条

[1]

X射线检查系统、X射线检查方法以及程序 [P].

狩田裕史 ;

笠原启雅 .

中国专利 :CN115004018A ,2022-09-02

[2]

X射线检查系统、X射线检查方法以及存储介质 [P].

狩田裕史 ;

笠原启雅 .

日本专利 :CN115004018B ,2025-09-19

[3]

X射线检查装置以及X射线检查方法 [P].

七吕真 ;

笠原启雅 .

中国专利 :CN115078416A ,2022-09-20

[4]

X射线发生装置,X射线摄像装置及X射线检查系统 [P].

平野雅之 ;

川上博己 .

中国专利 :CN1278591C ,2002-05-22

[5]

X射线检查装置及X射线检查系统 [P].

宫崎格 ;

辻村映治 .

中国专利 :CN118731069A ,2024-10-01

[6]

X射线检查装置与X射线检查系统 [P].

金钟熙 .

韩国专利 :CN116057371B ,2025-08-29

[7]

X射线检查装置及X射线检查系统 [P].

宫崎格 ;

辻村映治 .

中国专利 :CN118731068A ,2024-10-01

[8]

X射线检查装置和X射线检查方法 [P].

市原胜 ;

吉野信治 ;

井上博之 ;

木下俊生 ;

大内一生 .

中国专利 :CN1595124B ,2005-03-16

[9]

X射线检查方法以及X射线检查装置 [P].

益田真之 ;

松波刚 ;

小泉治幸 .

中国专利 :CN101266217A ,2008-09-17

[10]

X射线检查装置以及X射线检查方法 [P].

山河勉 ;

山本修一郎 ;

山崎雅志 .

中国专利 :CN106030293A ,2016-10-12

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