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X射线检查系统、X射线检查方法以及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202080094590.2
申请日：
2020-12-16
公开(公告)号：
CN115004018B
公开(公告)日：
2025-09-19
发明(设计)人：
狩田裕史 笠原启雅
申请人：
欧姆龙株式会社
申请人地址：
日本国京都府京都市
IPC主分类号：
G01N23/044
IPC分类号：
G01N23/046 G06T1/00
代理机构：
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：
方冬梅;马建军
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-19 授权 授权
共 50 条
[1]
X射线检查系统、X射线检查方法以及程序 [P]. 
狩田裕史 ;
笠原启雅 .
中国专利 :CN115004018A ,2022-09-02
[2]
X射线检查系统以及X射线接收装置 [P]. 
小林裕信 ;
住川健 ;
水谷博成 ;
横岛伸 ;
二阶堂羊司 .
中国专利 :CN110036283A ,2019-07-19
[3]
X射线检查方法以及X射线检查装置 [P]. 
益田真之 ;
松波刚 ;
小泉治幸 .
中国专利 :CN101266217A ,2008-09-17
[4]
X射线检查装置以及X射线检查方法 [P]. 
七吕真 ;
惠木守 .
中国专利 :CN114026411B ,2022-02-08
[5]
X射线检查装置以及X射线检查方法 [P]. 
七吕真 ;
曾我部智之 ;
小原晃 .
日本专利 :CN120787310A ,2025-10-14
[6]
X射线检查装置以及X射线检查方法 [P]. 
山河勉 ;
山本修一郎 ;
山崎雅志 .
中国专利 :CN106030293A ,2016-10-12
[7]
X射线检查装置以及X射线检查方法 [P]. 
七吕真 ;
笠原启雅 .
中国专利 :CN115078416A ,2022-09-20
[8]
X射线检查装置及X射线检查系统 [P]. 
宫崎格 ;
辻村映治 .
中国专利 :CN118731069A ,2024-10-01
[9]
X射线检查装置与X射线检查系统 [P]. 
金钟熙 .
韩国专利 :CN116057371B ,2025-08-29
[10]
X射线检查装置及X射线检查系统 [P]. 
宫崎格 ;
辻村映治 .
中国专利 :CN118731068A ,2024-10-01
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