荧光粒子的检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201280038085.1

申请日：

2012-07-02

公开(公告)号：

CN103718023A

公开(公告)日：

2014-04-09

发明(设计)人：

中田秀孝田边哲也

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇;李茂家

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-03-15	授权	授权
2014-05-07	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101582059234 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2012800380851 申请日:20120702
2014-04-09	公开	公开

共 50 条

[1]

目标粒子的检测方法 [P].

西川和孝 ;

叶梨拓哉 .

中国专利 :CN104136915A ,2014-11-05

[2]

目标粒子的检测方法 [P].

叶梨拓哉 .

中国专利 :CN104736999B ,2015-06-24

[3]

液中荧光粒子检测装置以及液中荧光粒子的检测方法 [P].

小原太辅 ;

古谷雅 .

中国专利 :CN106796177B ,2017-05-31

[4]

使用了荧光粒子的检测对象物质的检测方法 [P].

渡边裕也 ;

笠置典之 .

中国专利 :CN103033492A ,2013-04-10

[5]

利用光分析的单个粒子检测装置、单个粒子检测方法以及单个粒子检测用计算机程序 [P].

叶梨拓哉 .

中国专利 :CN104246479B ,2014-12-24

[6]

利用光分析的单个粒子检测装置、单个粒子检测方法以及单个粒子检测用计算机程序 [P].

叶梨拓哉 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103765195B ,2014-04-30

[7]

利用单个发光粒子检测的粒子的扩散特性值的测量方法 [P].

田边哲也 ;

山口光城 .

中国专利 :CN103154708B ,2013-06-12

[8]

利用单个发光粒子检测的光分析方法 [P].

田边哲也 .

中国专利 :CN103119421B ,2013-05-22

[9]

目标粒子的定量方法、光分析装置以及光分析用计算机程序 [P].

中田秀孝 .

中国专利 :CN103620389A ,2014-03-05

[10]

目标粒子的检测方法 [P].

西川和孝 .

中国专利 :CN103733047A ,2014-04-16

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