利用光分析的单个粒子检测装置、单个粒子检测方法以及单个粒子检测用计算机程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201380020726.5

申请日：

2013-03-11

公开(公告)号：

CN104246479B

公开(公告)日：

2014-12-24

发明(设计)人：

叶梨拓哉

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

G02B2100

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-10-19	授权	授权
2021-02-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20130311 授权公告日:20161019 终止日期:20200311
2015-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101595671223 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2013800207265 申请日:20130311
2014-12-24	公开	公开

共 50 条

[1]

利用光分析的单个粒子检测装置、单个粒子检测方法以及单个粒子检测用计算机程序 [P].

叶梨拓哉 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103765195B ,2014-04-30

[2]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

山口光城 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103930768A ,2014-07-16

[3]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

田边哲也 .

中国专利 :CN103477210B ,2013-12-25

[4]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

田边哲也 ;

近藤圣二 .

中国专利 :CN105593667A ,2016-05-18

[5]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

田边哲也 ;

山口光城 .

中国专利 :CN103733049B ,2014-04-16

[6]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

叶梨拓哉 ;

山口光城 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103460026A ,2013-12-18

[7]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

中田秀孝 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103765197A ,2014-04-30

[8]

利用单个发光粒子检测的光分析方法 [P].

田边哲也 .

中国专利 :CN103119421B ,2013-05-22

[9]

利用单个粒子检测的光分析装置、光分析方法 [P].

田边哲也 .

中国专利 :CN104115001B ,2014-10-22

[10]

利用单个发光粒子检测的光分析装置及光分析方法 [P].

田边哲也 ;

山口光城 .

中国专利 :CN103765196B ,2014-04-30

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