光学元件表面应力的测量方法以及装置

被引：0

申请号：

CN202111562161.6

申请日：

2021-12-17

公开(公告)号：

CN114370962A

公开(公告)日：

2022-04-19

发明(设计)人：

程北朱海斌

申请人：

申请人地址：

314006 浙江省嘉兴市南湖区亚太路906号17号楼

IPC主分类号：

G01L124

IPC分类号：

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

杜月

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-19	公开	公开

共 50 条

[1]

光学元件测量装置和测量方法 [P].

张玉奇 ;

王江峰 ;

黄文发 ;

彭宇杰 ;

乔治 ;

蒋志龙 .

中国专利 :CN103884489B ,2014-06-25

[2]

衍射光学元件光学性能的测量装置及测量方法 [P].

胡中华 ;

朱菁 ;

杨宝喜 ;

肖艳芬 ;

彭雪峰 ;

陈明 ;

曾爱军 ;

黄惠杰 .

中国专利 :CN102735428A ,2012-10-17

[3]

测量方法、测量装置和光学元件的制造方法 [P].

杉本智洋 .

中国专利 :CN106226032A ,2016-12-14

[4]

表面测量装置、处理装置以及表面测量方法 [P].

本田敏文 ;

德永大介 .

日本专利 :CN119022868A ,2024-11-26

[5]

大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法 [P].

张春香 ;

朱宝强 ;

唐顺兴 ;

缪洁 ;

高妍琦 ;

惠宏超 ;

郭亚晶 .

中国专利 :CN102062678A ,2011-05-18

[6]

光学测量装置以及光学测量方法 [P].

田口都一 ;

入江优 .

中国专利 :CN113137929A ,2021-07-20

[7]

光学测量装置以及光学测量方法 [P].

髙嶋润 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN110274543B ,2019-09-24

[8]

光学测量装置以及光学测量方法 [P].

髙嶋润 ;

金谷义宏 .

中国专利 :CN112654834A ,2021-04-13

[9]

超光滑光学元件表面缺陷类型的检测系统及其测量方法 [P].

王红军 ;

胡雪媛 ;

陈晨 ;

解格飒 ;

田爱玲 ;

朱学亮 ;

刘丙才 .

中国专利 :CN108827981A ,2018-11-16

[10]

一种光学元件微小应力的测量方法 [P].

李斌成 ;

肖石磊 ;

王静 ;

高椿明 .

中国专利 :CN107655599B ,2018-02-02

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