一种光学元件微小应力的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710826216.7

申请日：

2017-09-14

公开(公告)号：

CN107655599B

公开(公告)日：

2018-02-02

发明(设计)人：

李斌成肖石磊王静高椿明

申请人：

申请人地址：

611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号

IPC主分类号：

G01L124

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-02-02	公开	公开
2020-09-22	授权	授权
2018-03-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01L 1/24 申请日:20170914

共 50 条

[1]

一种单层膜光学元件应力和光学损耗同时测量的方法 [P].

李斌成 ;

肖石磊 ;

王静 .

中国专利 :CN108548658B ,2018-09-18

[2]

一种光学元件透射损耗测量方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN101995328A ,2011-03-30

[3]

光学元件表面应力的测量方法以及装置 [P].

程北 ;

朱海斌 .

中国专利 :CN114370962A ,2022-04-19

[4]

一种光学元件的测量系统及其测量方法 [P].

田鑫睿 ;

潘林 ;

高云 ;

陈雷 ;

许伟铭 ;

涂民熙 ;

刘貌 ;

李赞 .

中国专利 :CN117804747A ,2024-04-02

[5]

光学元件高反射率测量系统和测量方法 [P].

邵建达 ;

刘世杰 ;

王圣浩 .

中国专利 :CN109100330A ,2018-12-28

[6]

光学元件测量装置和测量方法 [P].

张玉奇 ;

王江峰 ;

黄文发 ;

彭宇杰 ;

乔治 ;

蒋志龙 .

中国专利 :CN103884489B ,2014-06-25

[7]

衍射光学元件光学性能的测量装置及测量方法 [P].

胡中华 ;

朱菁 ;

杨宝喜 ;

肖艳芬 ;

彭雪峰 ;

陈明 ;

曾爱军 ;

黄惠杰 .

中国专利 :CN102735428A ,2012-10-17

[8]

一种光学元件快速测量装置及测量方法 [P].

蹇华丽 ;

宋光均 ;

姚建政 ;

郑祥利 .

中国专利 :CN101545825A ,2009-09-30

[9]

测量方法、测量装置和光学元件的制造方法 [P].

杉本智洋 .

中国专利 :CN106226032A ,2016-12-14

[10]

光学元件的界面测量方法和设备 [P].

吉莱斯·弗莱斯阔特 ;

西尔万·珀蒂格朗德 .

法国专利 :CN113841023B ,2024-08-09

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