共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种半导体器件测试用探针台
被引：0
申请号：
CN202221945896.7
申请日：
2022-07-22
公开(公告)号：
CN218445654U
公开(公告)日：
2023-02-03
发明(设计)人：
陈福云
申请人：
申请人地址：
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区东信路光谷创业街10栋1单元1层01室800号（自贸区武汉片区）
IPC主分类号：
G01R1067
IPC分类号：
G01R104
G01R3126
代理机构：
合肥上博知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34188
代理人：
高翔
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2023-02-03 | 授权 | 授权 |