一种半导体器件测试用探针台

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202321432510.7
申请日
2023-06-07
公开(公告)号
CN220419378U
公开(公告)日
2024-01-30
发明(设计)人
杨凯翔 陈朝杰 张文清
申请人
广东万维半导体技术有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市龙岗区平湖街道山厦社区中环大道中科谷产业园B栋101
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
G01R1/067
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
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