高功率半导体激光器可靠性检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710193565.6

申请日：

2007-12-18

公开(公告)号：

CN101183136A

公开(公告)日：

2008-05-21

发明(设计)人：

石家纬郭树旭梁庆成曹军胜刘奎学李红岩

申请人：

申请人地址：

130023吉林省长春市朝阳区前进大街2699号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

H01S500

代理机构：

长春吉大专利代理有限责任公司

代理人：

张景林;刘喜生

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-07-16	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-05-21	公开	公开
2010-08-04	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101003707991 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2007101935656 公开日:20080521

共 50 条

[1]

高功率半导体激光器可靠性检测系统 [P].

白端元 ;

高欣 ;

薄报学 ;

周路 .

中国专利 :CN203606464U ,2014-05-21

[2]

高功率半导体激光器 [P].

朱宝华 ;

杨蓉 ;

方志强 ;

张继雪 ;

罗又辉 ;

王瑾 ;

高云峰 .

中国专利 :CN106785883A ,2017-05-31

[3]

高功率半导体激光器 [P].

刘佳敏 ;

蔡万绍 ;

孙帅 .

中国专利 :CN111799655A ,2020-10-20

[4]

高功率半导体激光器 [P].

常征 ;

盛倩文 ;

祖仕楠 ;

侯友良 ;

李晨 .

中国专利 :CN307681543S ,2022-11-22

[5]

半导体激光器的可靠性测试方法 [P].

章林强 ;

詹敦平 ;

周四海 .

中国专利 :CN102520329A ,2012-06-27

[6]

半导体激光器可靠性检测分析方法及其装置 [P].

石家纬 ;

金恩顺 ;

李正庭 ;

李红岩 ;

郭树旭 ;

高鼎三 .

中国专利 :CN1117136A ,1996-02-21

[7]

高功率半导体激光器加工系统 [P].

王敏 ;

蔡磊 ;

郑艳芳 ;

宋涛 ;

刘兴胜 .

中国专利 :CN203621726U ,2014-06-04

[8]

高功率半导体激光器加工系统 [P].

王敏 ;

蔡磊 ;

郑艳芳 ;

宋涛 ;

刘兴胜 .

中国专利 :CN103537795A ,2014-01-29

[9]

高功率半导体激光器测试系统 [P].

白端元 ;

高欣 ;

薄报学 ;

周路 ;

朱海忱 .

中国专利 :CN203606109U ,2014-05-21

[10]

高功率半导体激光器模块的检测装置 [P].

辛国锋 ;

瞿荣辉 ;

蔡海文 ;

方祖捷 ;

陈高庭 ;

沈力 ;

皮浩洋 .

中国专利 :CN201672973U ,2010-12-15

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