LTTL/LCMOS型中规模时序逻辑芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520319440.3

申请日：

2015-05-18

公开(公告)号：

CN204666786U

公开(公告)日：

2015-09-23

发明(设计)人：

钱莹晶张仁民张学斌周妮戴右芳

申请人：

申请人地址：

418008 湖南省怀化市迎丰东路612号

IPC主分类号：

G01R313177

IPC分类号：

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-09-23	授权	授权
2017-06-30	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 专利号:ZL2015203194403 申请日:20150518 授权公告日:20150923 终止日期:20160518 号牌文件序号:101730760096 IPC(主分类):G01R 31/3177

共 50 条

[1]

74/54系列中规模组合逻辑门电路芯片测试装置 [P].

钱莹晶 ;

张仁民 ;

周群 ;

张涛 ;

廖普辉 .

中国专利 :CN204666787U ,2015-09-23

[2]

逻辑测试装置 [P].

孙轶群 .

中国专利 :CN205176214U ,2016-04-20

[3]

一种逻辑芯片测试装置 [P].

吕德深 ;

梁承权 ;

黄世玲 .

中国专利 :CN110873838A ,2020-03-10

[4]

光电芯片测试装置 [P].

谢翔 ;

吴宏 ;

王丹 .

中国专利 :CN216622581U ,2022-05-27

[5]

基于FPGA的芯片逻辑测试装置 [P].

钱裕香 ;

周春晓 ;

袁宝弟 .

中国专利 :CN114563690A ,2022-05-31

[6]

芯片测试装置 [P].

熊凯 ;

文亚东 ;

辜诗涛 ;

张亦锋 ;

袁俊 .

中国专利 :CN211086513U ,2020-07-24

[7]

芯片测试装置 [P].

刘琪 ;

吴伟军 ;

林德先 .

中国专利 :CN214374907U ,2021-10-08

[8]

芯片测试装置 [P].

沈琦崧 ;

余玉龙 .

中国专利 :CN206020601U ,2017-03-15

[9]

芯片测试装置 [P].

嵇杰 ;

鲁刚强 .

中国专利 :CN221148846U ,2024-06-14

[10]

芯片测试装置 [P].

吴骁 .

中国专利 :CN220730364U ,2024-04-05

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