74/54系列中规模组合逻辑门电路芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520319451.1

申请日：

2015-05-18

公开(公告)号：

CN204666787U

公开(公告)日：

2015-09-23

发明(设计)人：

钱莹晶张仁民周群张涛廖普辉

申请人：

申请人地址：

418008 湖南省怀化市迎丰东路612号

IPC主分类号：

G01R313177

IPC分类号：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-09-23	授权	授权
2017-06-30	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101730759163 IPC(主分类):G01R 31/3177 专利号:ZL2015203194511 申请日:20150518 授权公告日:20150923 终止日期:20160518

共 50 条

[1]

LTTL/LCMOS型中规模时序逻辑芯片测试装置 [P].

钱莹晶 ;

张仁民 ;

张学斌 ;

周妮 ;

戴右芳 .

中国专利 :CN204666786U ,2015-09-23

[2]

光学芯片模组测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN111398790A ,2020-07-10

[3]

光学芯片模组测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN111398790B ,2024-09-13

[4]

测试装置和芯片模组 [P].

李海洋 .

中国专利 :CN112802537B ,2021-05-14

[5]

光学芯片模组测试装置 [P].

朱小刚 .

中国专利 :CN212569029U ,2021-02-19

[6]

测试电路及芯片电路测试装置 [P].

杨九如 ;

王春来 ;

李诚建 .

中国专利 :CN213457239U ,2021-06-15

[7]

基于FPGA的芯片逻辑测试装置 [P].

钱裕香 ;

周春晓 ;

袁宝弟 .

中国专利 :CN114563690A ,2022-05-31

[8]

一种逻辑芯片测试装置 [P].

吕德深 ;

梁承权 ;

黄世玲 .

中国专利 :CN110873838A ,2020-03-10

[9]

芯片测试用转接模组及芯片测试装置 [P].

李超 ;

闻岳 ;

钱澄 ;

杨斌 .

中国专利 :CN220961612U ,2024-05-14

[10]

复合逻辑门电路及包括其的芯片和电子装置 [P].

刘石生 .

中国专利 :CN217508742U ,2022-09-27

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