具有掩埋栅极结构的半导体器件及其制造方法

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专利类型
发明
申请号
CN201911255473.5
申请日
2019-12-10
公开(公告)号
CN112103338A
公开(公告)日
2020-12-18
发明(设计)人
金东洙
申请人
申请人地址
韩国京畿道
IPC主分类号
H01L29423
IPC分类号
H01L21336 H01L2978
代理机构
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363
代理人
王建国;许伟群
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
具有掩埋栅极结构的半导体器件及其制造方法 [P]. 
金东洙 .
中国专利 :CN112103341A ,2020-12-18
[2]
具有掩埋栅极结构的半导体器件及其制造方法 [P]. 
金东洙 .
韩国专利 :CN112103341B ,2024-05-28
[3]
具有掩埋栅极结构的半导体器件及其制造方法 [P]. 
金东洙 .
韩国专利 :CN112103338B ,2024-12-13
[4]
具有掩埋栅极的半导体器件的制造方法 [P]. 
金进雄 .
中国专利 :CN114284140A ,2022-04-05
[5]
具有掩埋栅极的半导体器件 [P]. 
金熙中 ;
权玟禹 ;
韩相然 ;
金尚元 ;
金俊秀 ;
申铉振 ;
李殷奎 .
中国专利 :CN114156270A ,2022-03-08
[6]
具有掩埋式栅极结构的半导体器件 [P]. 
金东洙 ;
金泰均 .
中国专利 :CN115706165A ,2023-02-17
[7]
具有掩埋栅极的半导体器件及其制造方法 [P]. 
韩尚烨 .
中国专利 :CN101814493A ,2010-08-25
[8]
具有掩埋栅结构的半导体器件及其制造方法 [P]. 
权世汉 ;
金东洙 .
韩国专利 :CN112447521B ,2024-02-23
[9]
具有掩埋栅结构的半导体器件及其制造方法 [P]. 
权世汉 ;
金东洙 .
中国专利 :CN112447521A ,2021-03-05
[10]
制造具有掩埋栅极的半导体器件的方法 [P]. 
林志玟 ;
黄京镐 .
中国专利 :CN102044495B ,2011-05-04