变异测试方法、装置、存储介质与芯片

被引：0

申请号：

CN202211419967.4

申请日：

2022-11-14

公开(公告)号：

CN115687144A

公开(公告)日：

2023-02-03

发明(设计)人：

邹博松朱科屹姜兴磊张舒凯祁帅

申请人：

申请人地址：

100048 北京市海淀区紫竹院路66号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447

代理人：

代凤霞

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-03	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片老化测试方法与装置、存储介质、测试设备 [P].

金罗军 ;

温佳欣 ;

张桂玉 .

中国专利 :CN113075529A ,2021-07-06

[2]

芯片测试方法、装置、存储介质及芯片 [P].

杨健明 ;

黄立伟 ;

刘浩 ;

张静 .

中国专利 :CN115587026A ,2023-01-10

[3]

芯片测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

欧永明 .

中国专利 :CN120652255A ,2025-09-16

[4]

芯片测试方法、芯片测试设备及可读存储介质 [P].

周轲 ;

董阳 ;

张钰磊 .

中国专利 :CN121168363A ,2025-12-19

[5]

芯片测试筛选方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

廖钰 .

中国专利 :CN118569153B ,2025-12-26

[6]

芯片质量测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

禹乾勋 .

中国专利 :CN118467517A ,2024-08-09

[7]

芯片测试筛选方法、装置、测试设备及存储介质 [P].

廖钰 .

中国专利 :CN118569153A ,2024-08-30

[8]

芯片测试方法、装置、芯片及存储介质 [P].

李晨 ;

肖珂 ;

布恩辉 ;

李健强 .

中国专利 :CN113641541A ,2021-11-12

[9]

一种变异测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

姬小玉 .

中国专利 :CN112597024A ,2021-04-02

[10]

芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质 [P].

孙军凯 ;

张柯 ;

孟祥刚 ;

蒋曦 .

中国专利 :CN114280454B ,2024-01-23

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