共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
芯片老化测试方法与装置、存储介质、测试设备
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110306995.4
申请日：
2021-03-23
公开(公告)号：
CN113075529A
公开(公告)日：
2021-07-06
发明(设计)人：
金罗军
温佳欣
张桂玉
申请人：
申请人地址：
100080 北京市海淀区北四环西路67号8层801
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京知帆远景知识产权代理有限公司 11890
代理人：
崔建锋
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-07-06 | 公开 | 公开 |
| 2021-07-23 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210323 |