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终端老化测试方法、装置、设备及存储介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111384075.0
申请日
:
2021-11-22
公开(公告)号
:
CN114064495A
公开(公告)日
:
2022-02-18
发明(设计)人
:
吴启军
申请人
:
申请人地址
:
710086 陕西省西安市沣东新城沣东旺城1号楼
IPC主分类号
:
G06F1136
IPC分类号
:
代理机构
:
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435
代理人
:
郭栋梁
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-02-18
公开
公开
2022-06-07
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20211122
共 50 条
[1]
设备老化测试方法、装置、终端设备及存储介质
[P].
请求不公布姓名
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市基克纳科技有限公司
深圳市基克纳科技有限公司
请求不公布姓名
;
李东辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市基克纳科技有限公司
深圳市基克纳科技有限公司
李东辉
.
中国专利
:CN118444045A
,2024-08-06
[2]
控制装置、老化测试设备、老化测试方法及存储介质
[P].
汝峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
汝峰
;
祝颂
论文数:
0
引用数:
0
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0
祝颂
;
王梦达
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王梦达
;
武恒文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
武恒文
.
中国专利
:CN113238910A
,2021-08-10
[3]
终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质
[P].
刘君
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘君
.
中国专利
:CN111601331A
,2020-08-28
[4]
终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质
[P].
刘君
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘君
.
中国专利
:CN111586732A
,2020-08-25
[5]
老化测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
孙天宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市基克纳科技有限公司
深圳市基克纳科技有限公司
孙天宇
;
王永超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市基克纳科技有限公司
深圳市基克纳科技有限公司
王永超
;
陈广辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市基克纳科技有限公司
深圳市基克纳科技有限公司
陈广辉
.
中国专利
:CN119986191A
,2025-05-13
[6]
老化测试方法、装置、设备及存储介质
[P].
夏炜
论文数:
0
引用数:
0
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0
夏炜
;
郑浩旋
论文数:
0
引用数:
0
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0
郑浩旋
.
中国专利
:CN114019268A
,2022-02-08
[7]
测试方法、终端设备、芯片及存储介质
[P].
丁高珂
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
荣耀终端有限公司
荣耀终端有限公司
丁高珂
.
中国专利
:CN116955208B
,2024-03-15
[8]
芯片老化测试方法与装置、存储介质、测试设备
[P].
金罗军
论文数:
0
引用数:
0
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0
金罗军
;
温佳欣
论文数:
0
引用数:
0
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0
温佳欣
;
张桂玉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张桂玉
.
中国专利
:CN113075529A
,2021-07-06
[9]
电池老化测试方法、控制终端及存储介质
[P].
孙传财
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
科华数据股份有限公司
科华数据股份有限公司
孙传财
;
周超伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
科华数据股份有限公司
科华数据股份有限公司
周超伟
;
许华兴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
科华数据股份有限公司
科华数据股份有限公司
许华兴
.
中国专利
:CN117310534B
,2025-12-30
[10]
老化测试方法、设备及可读存储介质
[P].
金又峥
论文数:
0
引用数:
0
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0
金又峥
;
李明
论文数:
0
引用数:
0
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0
李明
;
尹滨
论文数:
0
引用数:
0
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0
尹滨
;
辅俊海
论文数:
0
引用数:
0
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0
辅俊海
;
陈冬青
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈冬青
.
中国专利
:CN110850275B
,2020-02-28
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