终端老化测试方法、装置、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111384075.0
申请日
2021-11-22
公开(公告)号
CN114064495A
公开(公告)日
2022-02-18
发明(设计)人
吴启军
申请人
申请人地址
710086 陕西省西安市沣东新城沣东旺城1号楼
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435
代理人
郭栋梁
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
设备老化测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
李东辉 .
中国专利 :CN118444045A ,2024-08-06
[2]
控制装置、老化测试设备、老化测试方法及存储介质 [P]. 
汝峰 ;
祝颂 ;
王梦达 ;
武恒文 .
中国专利 :CN113238910A ,2021-08-10
[3]
终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质 [P]. 
刘君 .
中国专利 :CN111601331A ,2020-08-28
[4]
终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质 [P]. 
刘君 .
中国专利 :CN111586732A ,2020-08-25
[5]
老化测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
孙天宇 ;
王永超 ;
陈广辉 .
中国专利 :CN119986191A ,2025-05-13
[6]
老化测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
夏炜 ;
郑浩旋 .
中国专利 :CN114019268A ,2022-02-08
[7]
测试方法、终端设备、芯片及存储介质 [P]. 
丁高珂 .
中国专利 :CN116955208B ,2024-03-15
[8]
芯片老化测试方法与装置、存储介质、测试设备 [P]. 
金罗军 ;
温佳欣 ;
张桂玉 .
中国专利 :CN113075529A ,2021-07-06
[9]
电池老化测试方法、控制终端及存储介质 [P]. 
孙传财 ;
周超伟 ;
许华兴 .
中国专利 :CN117310534B ,2025-12-30
[10]
老化测试方法、设备及可读存储介质 [P]. 
金又峥 ;
李明 ;
尹滨 ;
辅俊海 ;
陈冬青 .
中国专利 :CN110850275B ,2020-02-28