控制装置、老化测试设备、老化测试方法及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110723552.5

申请日：

2021-06-29

公开(公告)号：

CN113238910A

公开(公告)日：

2021-08-10

发明(设计)人：

汝峰祝颂王梦达武恒文

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G06F3020 G06F11904 G06F11908

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

刘恋;张颖玲

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20210629
2021-08-10	公开	公开

共 50 条

[1]

老化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

孙天宇 ;

王永超 ;

陈广辉 .

中国专利 :CN119986191A ,2025-05-13

[2]

老化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

夏炜 ;

郑浩旋 .

中国专利 :CN114019268A ,2022-02-08

[3]

老化测试设备测试环境控制方法及老化测试设备 [P].

肖俊华 ;

梁欣 ;

邱国志 ;

黄俊伟 .

中国专利 :CN117908598A ,2024-04-19

[4]

终端老化测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

吴启军 .

中国专利 :CN114064495A ,2022-02-18

[5]

老化测试方法、设备及可读存储介质 [P].

金又峥 ;

李明 ;

尹滨 ;

辅俊海 ;

陈冬青 .

中国专利 :CN110850275B ,2020-02-28

[6]

老化测试设备的控制方法及老化测试设备 [P].

肖俊华 ;

梁欣 ;

于勤超 .

中国专利 :CN119001398A ,2024-11-22

[7]

老化测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

黄湘林 ;

刘绿山 .

中国专利 :CN118549809A ,2024-08-27

[8]

接口扩展模组、老化测试系统、老化测试方法及存储介质 [P].

汝峰 ;

徐晓东 ;

裴聪健 ;

冯宇飞 .

中国专利 :CN108919006A ,2018-11-30

[9]

芯片老化测试方法与装置、存储介质、测试设备 [P].

金罗军 ;

温佳欣 ;

张桂玉 .

中国专利 :CN113075529A ,2021-07-06

[10]

显示面板老化测试方法及存储介质 [P].

廖屿 ;

段永华 .

中国专利 :CN120564558A ,2025-08-29

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