老化测试设备测试环境控制方法及老化测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311741169.8

申请日：

2023-12-15

公开(公告)号：

CN117908598A

公开(公告)日：

2024-04-19

发明(设计)人：

肖俊华梁欣邱国志黄俊伟

申请人：

长川科技（内江）有限公司

申请人地址：

641199 四川省内江市高新区红桥街112号附1号1栋1单元4楼1号A区1号

IPC主分类号：

G05D23/30

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

上海港慧专利代理事务所(普通合伙) 31402

代理人：

钱雅娟

法律状态：

公开

国省代码：

四川省内江市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-19	公开	公开
2024-05-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G05D 23/30申请日:20231215

共 50 条

[1]

老化测试设备的控制方法及老化测试设备 [P].

肖俊华 ;

梁欣 ;

于勤超 .

中国专利 :CN119001398A ,2024-11-22

[2]

老化测试设备、电气设备及老化测试方法 [P].

肖永军 ;

周世红 ;

张忠雄 ;

戢汇亮 ;

魏亮 ;

张宇 .

中国专利 :CN115615480A ,2023-01-17

[3]

控制装置、老化测试设备、老化测试方法及存储介质 [P].

汝峰 ;

祝颂 ;

王梦达 ;

武恒文 .

中国专利 :CN113238910A ,2021-08-10

[4]

老化测试支撑板及老化测试设备 [P].

张鑫 ;

徐永刚 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN220543062U ,2024-02-27

[5]

老化测试设备用接触装置及老化测试设备 [P].

金进熙 ;

白珉昇 .

中国专利 :CN103293346B ,2013-09-11

[6]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379A ,2022-06-24

[7]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379B ,2025-02-11

[8]

老化测试设备 [P].

于洪懿 ;

范振东 ;

赵佳明 ;

王星 .

中国专利 :CN211826301U ,2020-10-30

[9]

老化测试设备 [P].

于勤超 ;

刘任峰 ;

张琦杰 ;

戴晨阳 .

中国专利 :CN222599785U ,2025-03-11

[10]

老化测试设备 [P].

赵德喜 ;

谭冬平 .

中国专利 :CN309461698S ,2025-08-26

← 1 2 3 4 5 →