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一种砷化镓基LED芯片的半切测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201911116489.8
申请日
:
2019-11-15
公开(公告)号
:
CN112820659B
公开(公告)日
:
2021-05-18
发明(设计)人
:
彭璐
郑军
齐国建
申请人
:
申请人地址
:
261061 山东省潍坊市高新区金马路9号
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
H01L3300
H01L3348
H01L3362
代理机构
:
济南诚智商标专利事务所有限公司 37105
代理人
:
黄晓燕
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-06-04
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20191115
2022-09-16
授权
授权
2021-05-18
公开
公开
共 50 条
[1]
砷化镓基LED芯片结构
[P].
江树昌
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江树昌
;
陈光明
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陈光明
;
张健凌
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张健凌
;
张绍甫
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张绍甫
.
中国专利
:CN216698408U
,2022-06-07
[2]
一种砷化镓基LED芯片及其制备方法
[P].
徐晓强
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徐晓强
;
程昌辉
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程昌辉
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张兆喜
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张兆喜
;
王梦雪
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王梦雪
;
闫宝华
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闫宝华
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徐现刚
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徐现刚
.
中国专利
:CN112582510A
,2021-03-30
[3]
一种砷化镓基LED芯片的制作方法
[P].
彭璐
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彭璐
;
张兆喜
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张兆喜
.
中国专利
:CN112750921B
,2021-05-04
[4]
一种砷化镓基LED芯片透明导电层测试点的制备方法
[P].
徐晓强
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徐晓强
;
程昌辉
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程昌辉
;
吴向龙
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吴向龙
;
闫宝华
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闫宝华
;
王成新
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王成新
.
中国专利
:CN114807840A
,2022-07-29
[5]
一种砷化镓芯片安装测试结构和方法
[P].
余夕霞
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机构:
上海聚跃检测技术有限公司
上海聚跃检测技术有限公司
余夕霞
.
中国专利
:CN117516707B
,2024-05-14
[6]
一种砷化镓芯片安装测试结构和方法
[P].
余夕霞
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机构:
上海聚跃检测技术有限公司
上海聚跃检测技术有限公司
余夕霞
.
中国专利
:CN117516707A
,2024-02-06
[7]
一种砷化镓基芯片的激光切割方法
[P].
潘棋
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中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
潘棋
;
张冰
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中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
张冰
;
赵晖
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中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
赵晖
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杨彬
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中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
杨彬
.
中国专利
:CN117483972A
,2024-02-02
[8]
一种砷化镓系LED外延结构及LED芯片
[P].
陈睿民
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机构:
江西乾照半导体科技有限公司
江西乾照半导体科技有限公司
陈睿民
;
彭贤春
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江西乾照半导体科技有限公司
江西乾照半导体科技有限公司
彭贤春
;
晏雨发
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江西乾照半导体科技有限公司
江西乾照半导体科技有限公司
晏雨发
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辛天姣
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江西乾照半导体科技有限公司
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辛天姣
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徐晶
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江西乾照半导体科技有限公司
江西乾照半导体科技有限公司
徐晶
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张阿芹
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江西乾照半导体科技有限公司
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张阿芹
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朱万祥
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江西乾照半导体科技有限公司
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朱万祥
;
韩效亚
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江西乾照半导体科技有限公司
江西乾照半导体科技有限公司
韩效亚
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马英杰
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江西乾照半导体科技有限公司
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马英杰
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赵鹏
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江西乾照半导体科技有限公司
江西乾照半导体科技有限公司
赵鹏
.
中国专利
:CN119300566A
,2025-01-10
[9]
砷化镓芯片开封方法
[P].
赵东艳
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北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
赵东艳
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王于波
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北京智芯微电子科技有限公司
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王于波
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陈鹏
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北京智芯微电子科技有限公司
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陈鹏
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陈燕宁
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北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
陈燕宁
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董广智
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北京智芯微电子科技有限公司
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董广智
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钟明琛
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北京智芯微电子科技有限公司
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钟明琛
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宋彦斌
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宋彦斌
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单书珊
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单书珊
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林国栋
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林国栋
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李智诚
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北京智芯微电子科技有限公司
北京智芯微电子科技有限公司
李智诚
.
中国专利
:CN114325303B
,2025-02-14
[10]
砷化镓芯片开封方法
[P].
赵东艳
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赵东艳
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王于波
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王于波
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陈鹏
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陈鹏
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陈燕宁
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陈燕宁
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董广智
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董广智
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钟明琛
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钟明琛
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宋彦斌
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宋彦斌
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单书珊
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单书珊
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林国栋
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林国栋
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李智诚
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李智诚
.
中国专利
:CN114325303A
,2022-04-12
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