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一种测试MOS管特性的测试电路及其方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201310003944.X
申请日：
2013-01-07
公开(公告)号：
CN103913688A
公开(公告)日：
2014-07-09
发明(设计)人：
邱海亮
蔡新春
申请人：
申请人地址：
100871 北京市海淀区成府路298号方正大厦9层
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
代理机构：
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291
代理人：
黄志华
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2014-08-06 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101584237249 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:201310003944X 申请日:20130107 |
| 2014-07-09 | 公开 | 公开 |
| 2022-08-05 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/26 登记生效日:20220722 变更事项:专利权人 变更前权利人:北大方正集团有限公司 变更后权利人:深圳方正微电子有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:100871 北京市海淀区成府路298号方正大厦9层 变更后权利人:518116 广东省深圳市龙岗区宝龙工业城宝龙七路5号方正微电子工业园 变更事项:专利权人 变更前权利人:深圳方正微电子有限公司 |
| 2016-09-21 | 授权 | 授权 |