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一种芯片测试机的翻转机构
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201922330474.3
申请日：
2019-12-23
公开(公告)号：
CN210668282U
公开(公告)日：
2020-06-02
发明(设计)人：
苏毅超
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区西丽街道茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园509-1
IPC主分类号：
H01L2166
IPC分类号：
H01L21677
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-06-02 | 授权 | 授权 |