一种芯片测试机的翻转机构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421905527.4

申请日：

2024-08-07

公开(公告)号：

CN223022198U

公开(公告)日：

2025-06-24

发明(设计)人：

潘伟杰梁经伦张文涛蒋泉生黎杰荣彭文锋

申请人：

广东华矽半导体设备有限公司

申请人地址：

523000 广东省东莞市松山湖园区新竹路4号11栋1单元101室

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/02 G01R31/28

代理机构：

广东中科小顶知识产权代理事务所(普通合伙) 44926

代理人：

吴道耀

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试机的翻转机构 [P].

吴国强 ;

周鑫鑫 ;

赵丽 ;

贾淑芳 .

中国专利 :CN213041951U ,2021-04-23

[2]

一种芯片测试机的翻转机构 [P].

陈力颖 .

中国专利 :CN209280862U ,2019-08-20

[3]

一种芯片测试机的翻转机构 [P].

卞杰锋 .

中国专利 :CN212845753U ,2021-03-30

[4]

一种芯片测试机的翻转机构 [P].

吴涛 .

中国专利 :CN221550764U ,2024-08-16

[5]

一种芯片测试机的翻转机构 [P].

苏毅超 .

中国专利 :CN210668282U ,2020-06-02

[6]

一种芯片测试机的翻转机构 [P].

文亚东 .

中国专利 :CN206619586U ,2017-11-07

[7]

一种芯片测试机的翻转机构 [P].

李勇 ;

刘湘鹏 ;

刘振华 .

中国专利 :CN218470208U ,2023-02-10

[8]

一种芯片测试机的翻转机构 [P].

李维繁星 .

中国专利 :CN218036901U ,2022-12-13

[9]

一种芯片测试机的翻转机构 [P].

彭朝亮 .

中国专利 :CN209606575U ,2019-11-08

[10]

一种芯片测试机的翻转机构 [P].

王玉伟 ;

何静 ;

王一凡 ;

何贵银 .

中国专利 :CN217820706U ,2022-11-15

← 1 2 3 4 5 →