一种芯片测试机的翻转机构

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202020618479.6
申请日
2020-04-20
公开(公告)号
CN213041951U
公开(公告)日
2021-04-23
发明(设计)人
吴国强 周鑫鑫 赵丽 贾淑芳
申请人
申请人地址
310000 浙江省杭州市杭州经济技术开发区白杨街道6号大街452号2号楼A1913-1914
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R102 G01R104 B25H110
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试机的翻转机构 [P]. 
王玉伟 ;
何静 ;
王一凡 ;
何贵银 .
中国专利 :CN217820706U ,2022-11-15
[2]
一种芯片测试机的翻转机构 [P]. 
卞杰锋 .
中国专利 :CN212845753U ,2021-03-30
[3]
一种芯片测试机的翻转机构 [P]. 
苏毅超 .
中国专利 :CN210668282U ,2020-06-02
[4]
一种芯片测试机的翻转机构 [P]. 
文亚东 .
中国专利 :CN206619586U ,2017-11-07
[5]
一种芯片测试机的翻转机构 [P]. 
陈力颖 .
中国专利 :CN209280862U ,2019-08-20
[6]
一种芯片测试机的翻转机构 [P]. 
潘伟杰 ;
梁经伦 ;
张文涛 ;
蒋泉生 ;
黎杰荣 ;
彭文锋 .
中国专利 :CN223022198U ,2025-06-24
[7]
一种芯片测试机的翻转机构 [P]. 
吴涛 .
中国专利 :CN221550764U ,2024-08-16
[8]
一种芯片测试机的翻转机构 [P]. 
李勇 ;
刘湘鹏 ;
刘振华 .
中国专利 :CN218470208U ,2023-02-10
[9]
一种芯片测试机的翻转机构 [P]. 
李维繁星 .
中国专利 :CN218036901U ,2022-12-13
[10]
一种芯片测试机的翻转机构 [P]. 
彭朝亮 .
中国专利 :CN209606575U ,2019-11-08