一种基站测试方法、装置、电子设备及存储介质

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专利类型
发明
申请号
CN202010525039.0
申请日
2020-06-10
公开(公告)号
CN113784382A
公开(公告)日
2021-12-10
发明(设计)人
王奎 路东朝 郑建华 罗昕
申请人
申请人地址
100083 北京市海淀区学院路29号
IPC主分类号
H04W2408
IPC分类号
代理机构
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人
苗晓静
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基站测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王奎 ;
路东朝 ;
郑建华 ;
罗昕 .
中国专利 :CN113784382B ,2024-01-26
[2]
一种基站测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
周日辉 ;
杨盈 .
中国专利 :CN113825166A ,2021-12-21
[3]
一种基站测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王岩 .
中国专利 :CN114124769A ,2022-03-01
[4]
一种基站测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
周日辉 ;
杨盈 .
中国专利 :CN113825166B ,2024-03-01
[5]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陆华 ;
郑鹰飞 ;
曹垒 ;
丁勇 ;
安鹏锦 ;
谷若兰 ;
沈文杰 .
中国专利 :CN112667510A ,2021-04-16
[6]
测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
安甲舒 ;
刘锐 .
中国专利 :CN120067220A ,2025-05-30
[7]
一种异常定位方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
黎溢贤 ;
田岳 ;
刘浩楠 .
中国专利 :CN114079959A ,2022-02-22
[8]
RPA产品的测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈丽杰 ;
黄鹏 ;
刘杰 ;
王瑞 ;
于继栋 .
中国专利 :CN115495342A ,2022-12-20
[9]
芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
李振贤 ;
穆剑昇 ;
张一帆 .
中国专利 :CN119758044A ,2025-04-04
[10]
芯片测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
李振贤 ;
穆剑昇 ;
张一帆 .
中国专利 :CN119758044B ,2025-07-04