一种高纯产品微量杂质分析装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121217425.X

申请日：

2021-06-02

公开(公告)号：

CN215449172U

公开(公告)日：

2022-01-07

发明(设计)人：

洪宝庆

申请人：

申请人地址：

519050 广东省珠海市高栏港经济区电厂南路

IPC主分类号：

G01N3300

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-07	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于高纯微量杂质样品的处理分析装置及处理方法 [P].

张君峰 ;

缪祺臻 .

中国专利 :CN120890770A ,2025-11-04

[2]

一种高纯样品超微量杂质分析处理用防尘盖 [P].

宗凤云 ;

丁培云 ;

李辉 ;

任小红 ;

陈晓军 ;

王鑫 ;

刘瑞霞 ;

武振国 ;

宋佳宁 ;

董楠 .

中国专利 :CN209166981U ,2019-07-26

[3]

一种用于高纯氟气中杂质的分析装置 [P].

李帅楠 ;

郑秋艳 ;

倪珊珊 ;

殷越玲 ;

苏子杰 ;

魏晓娟 ;

滕莹 ;

袁攀攀 .

中国专利 :CN216285088U ,2022-04-12

[4]

一种高纯氪中微量杂质的气相色谱分析系统 [P].

闫红伟 ;

戚芮甲 ;

李莎莎 ;

张秀蕊 ;

刘莉芳 ;

周沛沛 ;

李行 ;

张子阳 .

中国专利 :CN222212696U ,2024-12-20

[5]

一种微量高纯杂质密封包装瓶 [P].

孙再盟 ;

谢国俊 ;

张羽 .

中国专利 :CN217146776U ,2022-08-09

[6]

一种高纯氙气纯度的分析装置 [P].

何波 ;

叶智来 ;

杨康 ;

唐中伟 ;

黄小强 ;

王法迎 .

中国专利 :CN217060083U ,2022-07-26

[7]

一种高纯气体中微量杂质分析的气相色谱检测系统 [P].

闫云 ;

段亚林 ;

朱伶露 ;

杜新利 ;

吴晗 ;

韩述宇 ;

张素静 .

中国专利 :CN213957266U ,2021-08-13

[8]

一种气体中微量杂质分析装置及方法 [P].

闫云 ;

刘晓林 ;

董云峰 ;

代伟娜 ;

许东海 ;

黄国庆 ;

陈欢 ;

石晶 ;

李晓昆 .

中国专利 :CN104931615B ,2015-09-23

[9]

用于分析多种高纯气体中微量或痕量杂质的方法 [P].

李春 ;

陈刚 ;

彭树红 ;

黄涛宏 .

中国专利 :CN119165106A ,2024-12-20

[10]

一种用于二氧化碳中微量杂质分析的气相色谱仪 [P].

郭新操 ;

钟文洪 ;

刘淑华 .

中国专利 :CN221377838U ,2024-07-19

← 1 2 3 4 5 →