一种用于高纯氟气中杂质的分析装置

被引：0

申请号：

CN202122040633.3

申请日：

2021-08-27

公开(公告)号：

CN216285088U

公开(公告)日：

2022-04-12

发明(设计)人：

李帅楠郑秋艳倪珊珊殷越玲苏子杰魏晓娟滕莹袁攀攀

申请人：

申请人地址：

057550 河北省邯郸市肥乡区化工工业聚集区纬五路1号

IPC主分类号：

G01N3002

IPC分类号：

G01N3020 G01N3060 G01N3064 G01N3050

代理机构：

西安汇恩知识产权代理事务所(普通合伙) 61244

代理人：

张伟花

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-12	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于高纯二氯氢硅中痕量杂质检测的分析装置 [P].

倪珊珊 ;

陈润泽 ;

李欣 ;

李帅楠 ;

井栋宇 ;

吕舜 ;

解晓虎 ;

吕浩然 .

中国专利 :CN220795140U ,2024-04-16

[2]

一种高纯氟气中杂质的分析装置及方法 [P].

王斌 ;

赵丙倩 ;

史吏 ;

齐治乐 ;

焦美玲 ;

王树 .

中国专利 :CN119395174A ,2025-02-07

[3]

一种在线检测超纯氧中杂质的分析装置 [P].

杨康 ;

王法迎 ;

唐中伟 ;

黄小强 .

中国专利 :CN217084839U ,2022-07-29

[4]

一种用于电子气二氟甲烷中杂质检测的分析装置 [P].

王法迎 ;

黄小强 ;

杨康 .

中国专利 :CN217180751U ,2022-08-12

[5]

一种用于电子气二氟甲烷中杂质检测的分析装置及方法 [P].

王法迎 ;

黄小强 ;

杨康 .

中国专利 :CN114563521A ,2022-05-31

[6]

用于高纯锗烷气中微量杂质分析的氦离子化气相色谱仪 [P].

庄鸿涛 ;

郁光 ;

方华 .

中国专利 :CN203672844U ,2014-06-25

[7]

一种在线检测超纯氧中杂质的分析装置及其分析方法 [P].

杨康 ;

王法迎 ;

唐中伟 ;

黄小强 .

中国专利 :CN114563522A ,2022-05-31

[8]

高纯氨气中无机杂质的分析检测系统 [P].

许军州 ;

沈新民 ;

请求不公布姓名 ;

张捷 .

中国专利 :CN222704556U ,2025-04-01

[9]

一种用于分析高纯氢气中杂质的气相色谱检测系统及方法 [P].

许征光 ;

黄欢 ;

朱岩 ;

顾潮春 .

中国专利 :CN119198931A ,2024-12-27

[10]

一种高纯氙气纯度的分析装置 [P].

何波 ;

叶智来 ;

杨康 ;

唐中伟 ;

黄小强 ;

王法迎 .

中国专利 :CN217060083U ,2022-07-26

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