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一种半导体晶圆定向系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201420166993.5
申请日
:
2014-04-08
公开(公告)号
:
CN204011388U
公开(公告)日
:
2014-12-10
发明(设计)人
:
邓尚上
赖朝荣
苏俊铭
张旭升
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号
IPC主分类号
:
H01L2168
IPC分类号
:
代理机构
:
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
:
王宏婧
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2014-12-10
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体晶圆运送系统
[P].
赵宏宇
论文数:
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0
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0
赵宏宇
;
吴仪
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吴仪
.
中国专利
:CN202296364U
,2012-07-04
[2]
半导体晶圆
[P].
M·J·塞登
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M·J·塞登
;
野间崇
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野间崇
;
斋藤和弘
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斋藤和弘
.
中国专利
:CN207338360U
,2018-05-08
[3]
一种半导体晶圆传输系统
[P].
朱新亮
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朱新亮
.
中国专利
:CN216773202U
,2022-06-17
[4]
一种半导体晶圆
[P].
任霄峰
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任霄峰
;
胥超
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胥超
;
何洪涛
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何洪涛
;
徐永青
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徐永青
.
中国专利
:CN206014408U
,2017-03-15
[5]
半导体晶圆检测设备
[P].
张宏旸
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张宏旸
.
中国专利
:CN202166428U
,2012-03-14
[6]
半导体晶圆承载平台
[P].
厉心宇
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厉心宇
.
中国专利
:CN203644750U
,2014-06-11
[7]
一种半导体晶圆表面缺陷视觉检测系统
[P].
洪亚德
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洪亚德
;
陈松岩
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陈松岩
;
潘书万
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潘书万
;
林中龙
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林中龙
.
中国专利
:CN217983270U
,2022-12-06
[8]
一种半导体晶圆厚度检测系统
[P].
陈坚
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陈坚
;
吴周令
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吴周令
.
中国专利
:CN202511762U
,2012-10-31
[9]
一种半导体晶圆吸盘
[P].
贺武峰
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贺武峰
;
吴想
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吴想
.
中国专利
:CN213150748U
,2021-05-07
[10]
一种半导体晶圆吸盘
[P].
戴文海
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戴文海
.
中国专利
:CN211788958U
,2020-10-27
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