基体的保护方法

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专利类型
发明
申请号
CN200680049097.9
申请日
2006-12-07
公开(公告)号
CN101346191A
公开(公告)日
2009-01-14
发明(设计)人
绪方四郎
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
B05D500
IPC分类号
B32B702 B08B1702
代理机构
北京市金杜律师事务所
代理人
杨宏军
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
基体的保护方法 [P]. 
绪方四郎 .
中国专利 :CN1950198B ,2007-04-18
[2]
基体的保护方法 [P]. 
绪方四郎 .
中国专利 :CN101489695A ,2009-07-22
[3]
基体的保护方法 [P]. 
绪方四郎 .
中国专利 :CN101378854A ,2009-03-04
[4]
保护基体表面贴花的方法 [P]. 
钱玉章 .
中国专利 :CN101077493A ,2007-11-28
[5]
半导体基体的处理方法 [P]. 
赵伟 .
中国专利 :CN118531361A ,2024-08-23
[6]
基体表面金属测试方法 [P]. 
刘鹏飞 ;
陈微微 ;
鲁殿海 .
中国专利 :CN120721469A ,2025-09-30
[7]
基体防护涂层的制备方法 [P]. 
吴护林 ;
解志文 ;
向林 ;
高旭 ;
郭锋 ;
宁海青 ;
熊欢 ;
胡素影 ;
吴帅 ;
谢浩 ;
苏虹 ;
王晓辉 ;
黄波 ;
吴迪 ;
项运良 ;
沈蕾芳 .
中国专利 :CN114381683A ,2022-04-22
[8]
半导体基体的处理方法 [P]. 
马岳 .
中国专利 :CN120727571A ,2025-09-30
[9]
基体防护涂层的制备方法 [P]. 
吴护林 ;
解志文 ;
向林 ;
高旭 ;
郭锋 ;
宁海青 ;
熊欢 ;
胡素影 ;
吴帅 ;
谢浩 ;
苏虹 ;
王晓辉 ;
黄波 ;
吴迪 ;
项运良 ;
沈蕾芳 .
中国专利 :CN114381683B ,2024-04-12
[10]
单晶氮化镓基体的制造方法和单晶氮化镓基体 [P]. 
元木健作 ;
笠井仁 ;
冈久拓司 .
中国专利 :CN1176502C ,2002-01-23