探针和使用探针的电子器件

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201480076200.3
申请日
2014-11-21
公开(公告)号
CN106062567A
公开(公告)日
2016-10-26
发明(设计)人
寺西宏真 酒井贵浩
申请人
申请人地址
日本国京都府京都市
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
H01R1324
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
李辉;黄纶伟
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
用于电子器件的探针卡 [P]. 
罗伯特·克里帕 ;
斯太法罗·费利奇 .
中国专利 :CN109564242A ,2019-04-02
[2]
电子器件用探针头及相应的探针卡 [P]. 
罗伯特·克里帕 .
中国专利 :CN114207452A ,2022-03-18
[3]
探针和使用探针的电子设备 [P]. 
寺西宏真 ;
酒井贵浩 .
中国专利 :CN106489078A ,2017-03-08
[4]
电子器件探针头用接触探针的制造方法及相应的接触探针 [P]. 
罗伯特·克里帕 .
中国专利 :CN114222923A ,2022-03-22
[5]
用于测试电子器件的探针卡组件 [P]. 
范立 ;
达西·凯利-格林 ;
爱德华·米洛维克 ;
穆卡什·塞尔瓦拉 ;
吉姆·张 ;
长井源作 .
中国专利 :CN105531593A ,2016-04-27
[6]
用于电子器件测试设备的探针卡 [P]. 
弗拉维奥·马焦尼 .
:CN120513394A ,2025-08-19
[7]
带集成电子器件的超声波探针 [P]. 
杰弗瑞·M·吉尔伯特 ;
艾利斯·M·羌 ;
史蒂文·R·布罗德斯通 ;
加里·麦迪逊 ;
阿尔伯特·霍斯特 ;
王亮民 .
中国专利 :CN1361871A ,2002-07-31
[8]
接触探针和用于测试电子器件的装置的相关探头 [P]. 
罗伯特·克里帕 ;
拉斐尔·瓦劳利 .
中国专利 :CN110662969B ,2020-01-07
[9]
用于电子器件的测试装置的探针卡 [P]. 
里卡尔多·李博瑞尼 .
中国专利 :CN110573890B ,2019-12-13
[10]
用于测试电子器件的测试头的接触探针 [P]. 
法比奥·莫甘娜 .
中国专利 :CN111492251A ,2020-08-04