紫外发光器件的可靠性测试系统、方法、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010737037.8

申请日：

2020-07-28

公开(公告)号：

CN111965512A

公开(公告)日：

2020-11-20

发明(设计)人：

孙文红苏孟玮邓荐宇陈子乾

申请人：

申请人地址：

530000 广西壮族自治区南宁市大学东路100号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230

代理人：

陈炳萍

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20200728
2020-11-20	公开	公开

共 50 条

[1]

可靠性测试系统 [P].

李康 ;

陈宏领 ;

龚斌 ;

黄雪青 ;

张宇飞 .

中国专利 :CN104280646A ,2015-01-14

[2]

网络可靠性测试方法、测试系统以及存储介质 [P].

罗君 ;

陈土福 ;

杜琴 ;

易秋兰 .

中国专利 :CN113824613A ,2021-12-21

[3]

用于增强紫外发光器件的可靠性的方法和封装 [P].

戸板真人 ;

山田哲史 ;

北村健 ;

C·默依 ;

A·米勒 .

中国专利 :CN110235260A ,2019-09-13

[4]

伺服电机可靠性测试系统 [P].

王远航 ;

李小兵 ;

黄创绵 ;

胡湘洪 ;

杨剑锋 ;

刘文威 ;

丁小健 ;

潘广泽 .

中国专利 :CN206161814U ,2017-05-10

[5]

硅电容可靠性测试系统 [P].

吴成磊 ;

谢斌 ;

郑佳欣 ;

凌慢慢 ;

李岩 .

中国专利 :CN120928048A ,2025-11-11

[6]

柔性屏可靠性测试系统及柔性屏可靠性测试的方法 [P].

苏萌 ;

黄林轶 ;

徐华伟 ;

彭琦 ;

刘群兴 ;

杨林 ;

陈玉明 ;

刘嘉祁 .

中国专利 :CN108760543A ,2018-11-06

[7]

可靠性测试系统和方法 [P].

徐新兵 ;

刘时宇 ;

吴泽兵 ;

武康 ;

王振凯 ;

刘志华 .

中国专利 :CN119438837A ,2025-02-14

[8]

发光器件可靠性测试箱、测试装置和方法 [P].

徐华伟 ;

苏萌 ;

黄林轶 ;

彭琦 ;

胡坚耀 ;

陈玉明 ;

刘群兴 .

中国专利 :CN108332949A ,2018-07-27

[9]

芯片的可靠性测试系统 [P].

于东明 ;

李超伟 ;

郜其鑫 ;

张学磊 ;

钟明琛 ;

陈燕宁 .

中国专利 :CN110501632A ,2019-11-26

[10]

系统可靠性测试方法、装置、设备和存储介质 [P].

张婷 .

中国专利 :CN115080397A ,2022-09-20

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