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网络可靠性测试方法、测试系统以及存储介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111110833.X
申请日
:
2021-09-22
公开(公告)号
:
CN113824613A
公开(公告)日
:
2021-12-21
发明(设计)人
:
罗君
陈土福
杜琴
易秋兰
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市南山区高新南一道创维大厦A座14楼(仅作办公)
IPC主分类号
:
H04L1226
IPC分类号
:
H04W8412
H04W8418
代理机构
:
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
:
关向兰
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-07
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04L 12/26 申请日:20210922
2021-12-21
公开
公开
共 50 条
[1]
硬盘稳定可靠性测试方法、测试系统及计算机存储介质
[P].
邹宇翔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邹宇翔
;
曾伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曾伟
;
王萌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王萌
.
中国专利
:CN113742148A
,2021-12-03
[2]
系统可靠性测试方法、装置、设备和存储介质
[P].
张婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张婷
.
中国专利
:CN115080397A
,2022-09-20
[3]
可靠性测试方法及系统、设备、存储介质
[P].
范伟海
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
范伟海
.
中国专利
:CN114444245A
,2022-05-06
[4]
模数转换芯片的可靠性测试方法、系统、设备和存储介质
[P].
黄伟冠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
黄伟冠
;
李家辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
李家辉
;
苏锦冰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
苏锦冰
.
中国专利
:CN118316450A
,2024-07-09
[5]
电路主板可靠性测试方法、存储介质和系统
[P].
郭孝云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭孝云
;
严寒亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
严寒亮
.
中国专利
:CN113866608A
,2021-12-31
[6]
存储系统仲裁可靠性的测试方法、测试装置及测试设备
[P].
孟祥坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孟祥坤
.
中国专利
:CN112466383B
,2021-03-09
[7]
可靠性测试方法、装置和计算机存储介质
[P].
陈土福
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈土福
.
中国专利
:CN112637881A
,2021-04-09
[8]
闪存的可靠性测试方法及计算机可读存储介质
[P].
陈宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
陈宏
.
中国专利
:CN113838518B
,2024-03-22
[9]
闪存的可靠性测试方法及计算机可读存储介质
[P].
陈宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈宏
.
中国专利
:CN113838518A
,2021-12-24
[10]
紫外发光器件的可靠性测试系统、方法、存储介质
[P].
孙文红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙文红
;
苏孟玮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
苏孟玮
;
邓荐宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邓荐宇
;
陈子乾
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
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陈子乾
.
中国专利
:CN111965512A
,2020-11-20
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