基于高光谱技术的绝缘子表面含水量的检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910071649.5

申请日：

2019-01-25

公开(公告)号：

CN109765192A

公开(公告)日：

2019-05-17

发明(设计)人：

张血琴马欢吴广宁郭裕钧李春茂张晓青石超群康永强邱彦李院生

申请人：

申请人地址：

610031 四川省成都市二环路北一段111号

IPC主分类号：

G01N2131

IPC分类号：

代理机构：

成都博通专利事务所 51208

代理人：

陈树明

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-18	授权	授权
2019-06-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/31 申请日:20190125
2019-05-17	公开	公开

共 50 条

[1]

基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法 [P].

李谦慧 ;

马御棠 ;

马仪 ;

张血琴 ;

彭兆裕 ;

颜冰 ;

刘冲 ;

周仿荣 ;

潘浩 ;

文刚 ;

郭裕钧 ;

刘凯 ;

刘毅杰 ;

高国强 .

中国专利 :CN110632092B ,2019-12-31

[2]

基于高光谱技术的绝缘子污层电导检测方法 [P].

马御棠 ;

马欢 ;

张血琴 ;

程志万 ;

周仿荣 ;

颜冰 ;

彭兆裕 ;

潘浩 ;

黄然 ;

文刚 ;

郭裕钧 .

中国专利 :CN109799440B ,2019-05-24

[3]

一种基于高光谱技术的绝缘子表面污秽检测方法及系统 [P].

刘灵慧 ;

李保生 ;

韩涛 ;

赵全富 ;

黄娇 ;

亓晓卉 ;

玄永伟 ;

江泓澄 ;

张生凤 .

中国专利 :CN121007853A ,2025-11-25

[4]

一种基于高光谱技术的菊花含水量及分布情况的检测方法、设备和介质 [P].

刘洁 ;

杨业伟 ;

朱双杰 ;

张微微 ;

张健 ;

许子瑞 .

中国专利 :CN120766211A ,2025-10-10

[5]

基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法 [P].

吴广宁 ;

邱彦 ;

郭裕钧 ;

张血琴 ;

刘凯 ;

高国强 ;

杨泽锋 ;

魏文赋 .

中国专利 :CN110376214A ,2019-10-25

[6]

基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法及系统 [P].

张龙 ;

高嵩 ;

朱孟周 ;

毕晓甜 ;

梁伟 ;

张照辉 .

中国专利 :CN108072667A ,2018-05-25

[7]

基于太赫兹光谱技术的纸张含水量无损检测方法与装置 [P].

李斌 ;

樊书祥 ;

陈文焘 ;

何杰山 ;

郭文忠 ;

闫华 ;

马飞宇 ;

贾娜 ;

洪昊星 .

中国专利 :CN104374733A ,2015-02-25

[8]

基于高光谱的森林凋落物含水量的监测装置 [P].

李吉玫 ;

房佳兴 ;

张硕 ;

李翔 ;

孙雪娇 .

中国专利 :CN120869979A ,2025-10-31

[9]

基于高光谱的复合绝缘子憎水性检测方法 [P].

付晶 ;

邵瑰玮 ;

闵绚 ;

胡霁 .

中国专利 :CN102519846A ,2012-06-27

[10]

基于两波段高光谱的浸膏含水量检测方法及系统 [P].

肖伟 ;

赵堉文 ;

陈夏霖 ;

江天河 ;

张可 ;

曹亮 .

中国专利 :CN120629035A ,2025-09-12

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