基于高光谱技术的绝缘子污层电导检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910246923.8

申请日：

2019-03-29

公开(公告)号：

CN109799440B

公开(公告)日：

2019-05-24

发明(设计)人：

马御棠马欢张血琴程志万周仿荣颜冰彭兆裕潘浩黄然文刚郭裕钧

申请人：

申请人地址：

650217 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号

IPC主分类号：

G01N2194

IPC分类号：

G01R2702 G01R3112

代理机构：

北京弘权知识产权代理有限公司 11363

代理人：

逯长明;许伟群

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-06-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/12 申请日:20190329
2019-05-24	公开	公开
2021-06-18	授权	授权

共 50 条

[1]

基于高光谱技术的绝缘子表面含水量的检测方法 [P].

张血琴 ;

马欢 ;

吴广宁 ;

郭裕钧 ;

李春茂 ;

张晓青 ;

石超群 ;

康永强 ;

邱彦 ;

李院生 .

中国专利 :CN109765192A ,2019-05-17

[2]

基于高光谱技术的绝缘子污秽度非接触检测方法 [P].

吴广宁 ;

邱彦 ;

郭裕钧 ;

张血琴 ;

刘凯 ;

高国强 ;

杨泽锋 ;

魏文赋 .

中国专利 :CN110376214A ,2019-10-25

[3]

复合绝缘子高光谱检测方法 [P].

邵瑰玮 ;

宋智兰 ;

付晶 ;

文志科 ;

王文龙 .

中国专利 :CN102565577A ,2012-07-11

[4]

基于高光谱的绝缘子污秽等级检测方法及系统 [P].

张龙 ;

高嵩 ;

朱孟周 ;

毕晓甜 ;

梁伟 ;

张照辉 .

中国专利 :CN108072667A ,2018-05-25

[5]

基于高光谱的复合绝缘子憎水性检测方法 [P].

付晶 ;

邵瑰玮 ;

闵绚 ;

胡霁 .

中国专利 :CN102519846A ,2012-06-27

[6]

基于高光谱成像技术的车顶绝缘子电晕老化等级评估方法 [P].

郭裕钧 ;

吕思 ;

吴广宁 ;

高国强 ;

张血琴 ;

肖嵩 ;

赵福平 ;

付峥争 ;

李擎宇 .

中国专利 :CN117349760A ,2024-01-05

[7]

基于机载高光谱的绝缘子污闪预测方法及系统 [P].

马御棠 ;

唐昕宇 ;

李宇 ;

郭裕钧 ;

程志万 ;

周仿荣 ;

颜冰 ;

彭兆裕 ;

潘浩 ;

黄然 ;

张血琴 .

中国专利 :CN109799442B ,2019-05-24

[8]

一种基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法 [P].

郭裕钧 ;

张玉翠 ;

张血琴 ;

刘凯 ;

吴广宁 ;

杨雁 ;

李春茂 .

中国专利 :CN111239073B ,2020-06-05

[9]

基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法 [P].

李谦慧 ;

马御棠 ;

马仪 ;

张血琴 ;

彭兆裕 ;

颜冰 ;

刘冲 ;

周仿荣 ;

潘浩 ;

文刚 ;

郭裕钧 ;

刘凯 ;

刘毅杰 ;

高国强 .

中国专利 :CN110632092B ,2019-12-31

[10]

基于高光谱的复合绝缘子运行状态分类方法 [P].

付晶 ;

邵瑰玮 ;

陈怡 ;

蔡焕青 .

中国专利 :CN102520286A ,2012-06-27

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