测试座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201620597131.7
申请日
2016-06-17
公开(公告)号
CN205679709U
公开(公告)日
2016-11-09
发明(设计)人
周世傑 龚志祥
申请人
申请人地址
中国台湾台北市内湖区堤顶大道二段239号
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
G01R104
代理机构
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
梁挥;常大军
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测试座(芯片测试座) [P]. 
李军 ;
李天雨 .
中国专利 :CN308470272S ,2024-02-13
[2]
测试座 [P]. 
张光荣 ;
何巧丽 .
中国专利 :CN300790685D ,2008-06-11
[3]
测试座 [P]. 
张倍铭 .
中国专利 :CN105588957B ,2016-05-18
[4]
测试座 [P]. 
叶柏汉 ;
孙家彬 .
中国专利 :CN220584352U ,2024-03-12
[5]
测试座 [P]. 
郑永倍 ;
金钟元 ;
俞恩智 ;
金炯俊 .
韩国专利 :CN114341652B ,2025-02-07
[6]
测试座 [P]. 
叶柏汉 ;
孙家彬 .
中国专利 :CN119104868A ,2024-12-10
[7]
测试座 [P]. 
吴士军 .
中国专利 :CN306302033S ,2021-01-29
[8]
测试座 [P]. 
孙家彬 ;
叶柏汉 ;
王渊立 ;
颜沛琦 .
中国专利 :CN119104754A ,2024-12-10
[9]
测试座 [P]. 
J·E·洛佩兹 ;
D·B·谢尔 ;
M·L·吉尔克 .
中国专利 :CN103076467A ,2013-05-01
[10]
测试座 [P]. 
郑永倍 .
中国专利 :CN105527472B ,2016-04-27