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测试座

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202080061282.X
申请日：
2020-08-28
公开(公告)号：
CN114341652B
公开(公告)日：
2025-02-07
发明(设计)人：
郑永倍 金钟元 俞恩智 金炯俊
申请人：
株式会社ISC
申请人地址：
韩国京畿道城南市
IPC主分类号：
G01R1/04
IPC分类号：
G01R31/28
代理机构：
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：
吕琳;田英爱
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-02-07 授权 授权
共 50 条
[1]
测试座 [P]. 
郑永倍 ;
金钟元 ;
俞恩智 ;
金炯俊 .
中国专利 :CN114341652A ,2022-04-12
[2]
测试座 [P]. 
申荣泽 ;
李炳哲 .
中国专利 :CN115698729A ,2023-02-03
[3]
测试座（芯片测试座） [P]. 
李军 ;
李天雨 .
中国专利 :CN308470272S ,2024-02-13
[4]
测试座及包含其的测试装置、测试座的制造方法 [P]. 
吴昌洙 .
中国专利 :CN113063970A ,2021-07-02
[5]
测试座 [P]. 
张光荣 ;
何巧丽 .
中国专利 :CN300790685D ,2008-06-11
[6]
测试座 [P]. 
张倍铭 .
中国专利 :CN105588957B ,2016-05-18
[7]
测试座 [P]. 
叶柏汉 ;
孙家彬 .
中国专利 :CN220584352U ,2024-03-12
[8]
测试座 [P]. 
周世傑 ;
龚志祥 .
中国专利 :CN205679709U ,2016-11-09
[9]
测试座 [P]. 
叶柏汉 ;
孙家彬 .
中国专利 :CN119104868A ,2024-12-10
[10]
测试座 [P]. 
吴士军 .
中国专利 :CN306302033S ,2021-01-29
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