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一种时间测量方法以及测量装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910199396.X
申请日
:
2019-03-15
公开(公告)号
:
CN110099438A
公开(公告)日
:
2019-08-06
发明(设计)人
:
周俊杰
沈亮杰
周熙涵
申请人
:
申请人地址
:
430074 湖北省武汉市东湖高新技术开发区文华园路8号
IPC主分类号
:
H04W5600
IPC分类号
:
H04W6400
代理机构
:
北京众达德权知识产权代理有限公司 11570
代理人
:
徐松
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-08-30
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04W 56/00 申请日:20190315
2022-01-28
发明专利申请公布后的驳回
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H04W 56/00 申请公布日:20190806
2019-08-06
公开
公开
共 50 条
[1]
时间测量装置和时间测量方法
[P].
盛廷义
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
杭州脑芯科技有限公司
杭州脑芯科技有限公司
盛廷义
.
中国专利
:CN115981128B
,2025-07-22
[2]
时间测量装置、时间测量方法和距离测量装置
[P].
阿部敬之
论文数:
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引用数:
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阿部敬之
;
斋藤雅史
论文数:
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斋藤雅史
;
园田高大
论文数:
0
引用数:
0
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园田高大
.
中国专利
:CN115004557A
,2022-09-02
[3]
时间测量装置、时间测量方法、发光寿命测量装置及发光寿命测量方法
[P].
北泽健
论文数:
0
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北泽健
;
西泽充哲
论文数:
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西泽充哲
;
伊东孝
论文数:
0
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0
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0
伊东孝
.
中国专利
:CN106716266A
,2017-05-24
[4]
时间测量装置、荧光寿命测量装置及时间测量方法
[P].
新仓史智
论文数:
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0
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
新仓史智
.
日本专利
:CN115735115B
,2025-04-08
[5]
时间测量装置、微型控制器、程序以及时间测量方法
[P].
安田晃辅
论文数:
0
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安田晃辅
.
中国专利
:CN103135661A
,2013-06-05
[6]
一种测量方法以及测量装置
[P].
岑伟丰
论文数:
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岑伟丰
;
王伟
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王伟
;
陈振虎
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陈振虎
;
沈科炬
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沈科炬
;
马洁
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马洁
;
罗立华
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罗立华
.
中国专利
:CN105588523A
,2016-05-18
[7]
一种测量装置以及测量方法
[P].
支涛
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支涛
;
高腾飞
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高腾飞
.
中国专利
:CN110953983A
,2020-04-03
[8]
一种测量方法以及测量装置
[P].
苏长征
论文数:
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
苏长征
;
李驰
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
李驰
;
曾嘉宏
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
曾嘉宏
.
中国专利
:CN119853793A
,2025-04-18
[9]
测量装置以及测量方法
[P].
井上胜
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井上胜
;
本间彰
论文数:
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本间彰
.
中国专利
:CN1854681B
,2006-11-01
[10]
测量装置以及测量方法
[P].
那塔立亚·纳把托巴-戈巴因
论文数:
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0
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0
那塔立亚·纳把托巴-戈巴因
.
中国专利
:CN102331271A
,2012-01-25
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