一种用于三维形貌测量的光场相机校准方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010024192.5

申请日：

2020-01-10

公开(公告)号：

CN111351446B

公开(公告)日：

2020-06-30

发明(设计)人：

李浩天钱至文丁俊飞

申请人：

申请人地址：

201109 上海市闵行区剑川路951号1幢1103室

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

G01B1100

代理机构：

上海段和段律师事务所 31334

代理人：

李佳俊

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-02	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01B 11/24 变更事项:专利权人变更前:奕目（上海）科技有限公司变更后:奕目（上海）科技有限公司变更事项:地址变更前:201109 上海市闵行区剑川路951号1幢1103室变更后:201109 上海市闵行区剑川路951号1幢1206室
2020-07-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20200110
2021-09-21	授权	授权
2020-06-30	公开	公开

共 50 条

[1]

用于光场三维粒子图像重构的光场相机校准方法 [P].

丁俊飞 ;

赵洲 ;

李浩天 ;

施圣贤 .

中国专利 :CN109166154B ,2019-01-08

[2]

一种多光场调制的三维形貌测量方法 [P].

何渝 ;

唐燕 ;

刘俊伯 ;

杜婧 .

中国专利 :CN108120393B ,2018-06-05

[3]

基于光场单相机的工业产品三维形貌实时检测系统 [P].

许晟明 .

中国专利 :CN106918306A ,2017-07-04

[4]

一种三维光场相机 [P].

胡化策 .

中国专利 :CN212543860U ,2021-02-12

[5]

一种结构光三维形貌测量装置 [P].

刘浪 ;

庞淑屏 ;

万小新 ;

刘威 ;

战玉臣 .

中国专利 :CN201974160U ,2011-09-14

[6]

一种三维形貌测量的光路结构 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN216745971U ,2022-06-14

[7]

一种用于真空的三维形貌测量系统 [P].

韩林 ;

刘晓辉 ;

史楷 ;

何志成 .

中国专利 :CN105157615A ,2015-12-16

[8]

用于测量三维形貌的测量装置 [P].

黄鑫 .

中国专利 :CN210089643U ,2020-02-18

[9]

一种三维形貌测量装置 [P].

刘浪 ;

刘威 ;

战玉臣 ;

庞淑屏 ;

万晓新 .

中国专利 :CN104180773B ,2014-12-03

[10]

一种用于微纳尺度三维形貌测量的方法 [P].

周维虎 ;

黎尧 ;

纪荣祎 ;

劳达宝 ;

董登峰 ;

张滋黎 ;

袁江 ;

刘鑫 ;

胡坤 .

中国专利 :CN104897076A ,2015-09-09

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