半导体二极管测试组件

被引：0

申请号：

CN202123211696.7

申请日：

2021-12-15

公开(公告)号：

CN217112588U

公开(公告)日：

2022-08-02

发明(设计)人：

汪良恩杨华汪都毕华林

申请人：

申请人地址：

247100 安徽省池州市经济技术开发区富安电子信息产业园10号厂房

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11542

代理人：

叶静

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体二极管测试组件 [P].

李洪宾 ;

潘小庆 .

中国专利 :CN222050369U ,2024-11-22

[2]

半导体二极管 [P].

叶惠东 .

中国专利 :CN204966507U ,2016-01-13

[3]

新型半导体二极管结构 [P].

王小杰 .

中国专利 :CN204189782U ,2015-03-04

[4]

半导体二极管 [P].

杨明宗 ;

李东兴 .

中国专利 :CN102842621A ,2012-12-26

[5]

半导体二极管 [P].

H-J·舒尔策 ;

J·G·拉文 ;

R·巴布斯克 .

中国专利 :CN105006489B ,2015-10-28

[6]

半导体二极管 [P].

W·克勒 .

中国专利 :CN1283309A ,2001-02-07

[7]

半导体二极管 [P].

陈硕懋 .

中国专利 :CN101582457A ,2009-11-18

[8]

轴向二极管测试组件 [P].

刁卫斌 ;

王毅 .

中国专利 :CN220381182U ,2024-01-23

[9]

半导体二极管和带有半导体二极管的电子电路组件 [P].

C·格约博 ;

B·罗森萨夫 ;

U·席林 ;

W·M·舒尔茨 ;

S·托伊伯 .

中国专利 :CN108447917A ,2018-08-24

[10]

半导体二极管加工设备 [P].

邓江 .

中国专利 :CN223539569U ,2025-11-11

← 1 2 3 4 5 →