状态测定装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN93118822.9
申请日
1993-08-31
公开(公告)号
CN1087187A
公开(公告)日
1994-05-25
发明(设计)人
筒井宏明 神村一幸 黑崎淳 松叶匡彦
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
G06F1500
IPC分类号
G05B1700
代理机构
中国专利代理(香港)有限公司
代理人
程天正;叶恺东
法律状态
实质审查请求的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
状态测定方法、状态测定装置以及程序 [P]. 
小杉大智 ;
相川文明 ;
岩濑骏介 ;
丸山泰右 .
日本专利 :CN120225849A ,2025-06-27
[2]
固化状态测定装置 [P]. 
中宗宪一 ;
长谷部洋治 ;
今井清司 .
中国专利 :CN101393125A ,2009-03-25
[3]
偏振状态测定装置以及偏振状态测定方法 [P]. 
山田英明 ;
长石道博 .
中国专利 :CN102914368A ,2013-02-06
[4]
状态测定装置、状态测定方法及记录介质 [P]. 
河室佑贵 ;
盐入章弘 ;
中山直人 .
中国专利 :CN114062441A ,2022-02-18
[5]
水分状态测定装置及水分状态测定方法 [P]. 
富田高弘 .
中国专利 :CN103713108A ,2014-04-09
[6]
打标状态测定装置 [P]. 
权九彻 .
中国专利 :CN107297568B ,2017-10-27
[7]
电池充电状态测定装置 [P]. 
S·兴 .
中国专利 :CN1298106A ,2001-06-06
[8]
絮凝体状态测定装置 [P]. 
王佳杰 ;
罗云峰 ;
李耀良 ;
袁芬 ;
路三平 .
中国专利 :CN107462488A ,2017-12-12
[9]
基板状态测定装置、镀覆装置以及基板状态测定方法 [P]. 
下山正 ;
増田泰之 ;
樋渡良辅 .
日本专利 :CN119593039A ,2025-03-11
[10]
基板状态测定装置、镀覆装置以及基板状态测定方法 [P]. 
下山正 ;
増田泰之 ;
樋渡良辅 .
日本专利 :CN117813422A ,2024-04-02