偏振状态测定装置以及偏振状态测定方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210272524.7
申请日
2012-08-01
公开(公告)号
CN102914368A
公开(公告)日
2013-02-06
发明(设计)人
山田英明 长石道博
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01J400
IPC分类号
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
李辉;黄纶伟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
状态测定方法、状态测定装置以及程序 [P]. 
小杉大智 ;
相川文明 ;
岩濑骏介 ;
丸山泰右 .
日本专利 :CN120225849A ,2025-06-27
[2]
基板状态测定装置、镀覆装置以及基板状态测定方法 [P]. 
下山正 ;
増田泰之 ;
樋渡良辅 .
日本专利 :CN119593039A ,2025-03-11
[3]
基板状态测定装置、镀覆装置以及基板状态测定方法 [P]. 
下山正 ;
増田泰之 ;
樋渡良辅 .
日本专利 :CN117813422A ,2024-04-02
[4]
基板状态测定装置、镀覆装置以及基板状态测定方法 [P]. 
下山正 ;
増田泰之 ;
樋渡良辅 .
日本专利 :CN117813422B ,2024-11-22
[5]
基板状态测定装置、镀覆装置以及基板状态测定方法 [P]. 
下山正 ;
増田泰之 ;
樋渡良辅 .
日本专利 :CN119593039B ,2025-09-26
[6]
状态测定装置、状态测定方法及记录介质 [P]. 
河室佑贵 ;
盐入章弘 ;
中山直人 .
中国专利 :CN114062441A ,2022-02-18
[7]
状态测定装置 [P]. 
筒井宏明 ;
神村一幸 ;
黑崎淳 ;
松叶匡彦 .
中国专利 :CN1087187A ,1994-05-25
[8]
水分状态测定装置及水分状态测定方法 [P]. 
富田高弘 .
中国专利 :CN103713108A ,2014-04-09
[9]
膜状态测定方法、膜状态测定装置及程序 [P]. 
小杉大智 ;
岩濑骏介 ;
相川文明 ;
丸山泰右 .
日本专利 :CN120188022A ,2025-06-20
[10]
偏振轴检测器、偏振测定装置及方法、偏振光照射装置 [P]. 
吉田启二 .
中国专利 :CN105300524A ,2016-02-03