状态测定装置、状态测定方法及记录介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110896776.6

申请日：

2021-08-05

公开(公告)号：

CN114062441A

公开(公告)日：

2022-02-18

发明(设计)人：

河室佑贵盐入章弘中山直人

申请人：

申请人地址：

日本长野县上田市

IPC主分类号：

G01N2707

IPC分类号：

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

吕琳;朴秀玉

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-18	公开	公开

共 50 条

[1]

状态测定方法、状态测定装置以及程序 [P].

小杉大智 ;

相川文明 ;

岩濑骏介 ;

丸山泰右 .

日本专利 :CN120225849A ,2025-06-27

[2]

膜状态测定方法、膜状态测定装置及程序 [P].

小杉大智 ;

岩濑骏介 ;

相川文明 ;

丸山泰右 .

日本专利 :CN120188022A ,2025-06-20

[3]

水分状态测定装置及水分状态测定方法 [P].

富田高弘 .

中国专利 :CN103713108A ,2014-04-09

[4]

测定装置、测定方法及记录有测定程序的记录介质 [P].

西田和史 ;

原仁 ;

节田和纪 .

中国专利 :CN111238380B ,2020-06-05

[5]

偏振状态测定装置以及偏振状态测定方法 [P].

山田英明 ;

长石道博 .

中国专利 :CN102914368A ,2013-02-06

[6]

状态测定装置 [P].

筒井宏明 ;

神村一幸 ;

黑崎淳 ;

松叶匡彦 .

中国专利 :CN1087187A ,1994-05-25

[7]

测定装置、测定方法以及记录介质 [P].

中野梓 ;

富泽亮太 ;

中岛健 ;

岸部祥典 .

日本专利 :CN119496967A ,2025-02-21

[8]

测定装置、测定方法以及记录介质 [P].

小林宏企 ;

滝口真也 .

中国专利 :CN115372693A ,2022-11-22

[9]

测定装置、测定方法以及记录介质 [P].

奥田忠义 .

日本专利 :CN115244620B ,2025-04-08

[10]

测定装置、测定方法、测定程序以及记录介质 [P].

山内隆典 ;

后藤广树 ;

宫城由香里 ;

小西良明 ;

西冈隼也 .

日本专利 :CN118525194A ,2024-08-20

← 1 2 3 4 5 →