用于化学机械平坦化后的基板抛光预清洁的系统、方法和装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201480057214.0
申请日
2014-10-24
公开(公告)号
CN105722641A
公开(公告)日
2016-06-29
发明(设计)人
C·P·萨卡塔 H·陈 J·K·阿特金森 B·J·布朗 J·唐 Y·陈 Y·丁
申请人
申请人地址
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
B24B3734
IPC分类号
B24B3704 B25J1500
代理机构
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人
黄嵩泉
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
用于抛光模组的预化学机械平坦化的方法与设备 [P]. 
H·陈 ;
J·阿特金森 ;
A·L·德阿姆巴拉 .
中国专利 :CN104303272B ,2015-01-21
[2]
用于化学机械平坦化后的基板清洗的方法及设备 [P]. 
S-H·高 ;
L·卡鲁比亚 .
中国专利 :CN104956467B ,2015-09-30
[3]
用于化学机械平坦化后的含水清洁液组合物 [P]. 
陈建清 .
中国专利 :CN1164724C ,2002-09-25
[4]
用于化学机械平坦化的多步抛光液 [P]. 
刘振东 ;
J·匡西 ;
R·E·施密特 ;
T·M·托马斯 .
中国专利 :CN1324105C ,2006-01-18
[5]
化学机械平坦化的方法 [P]. 
粘博钦 ;
黄罡 ;
洪伟伦 .
中国专利 :CN111952163A ,2020-11-17
[6]
用于铜的化学机械平坦化的浆料和方法 [P]. 
S·V·巴布 ;
沙拉斯·海格德 ;
苏尼尔·扎 ;
尤达雅·B·帕特里 ;
洪荣基 .
中国专利 :CN1863883A ,2006-11-15
[7]
化学机械平坦化的系统及方法 [P]. 
许峻维 .
中国专利 :CN114695104A ,2022-07-01
[8]
化学机械平坦化系统和使用其的方法 [P]. 
苏芳仪 .
中国专利 :CN110871403B ,2020-03-10
[9]
用于具有荧光检测的化学机械平坦化的系统和方法 [P]. 
刘翼硕 ;
黄惠琪 ;
蔡荣赞 ;
李健平 .
中国专利 :CN104647194A ,2015-05-27
[10]
用于控制化学机械平坦化的系统及方法 [P]. 
许峻维 .
中国专利 :CN114633201A ,2022-06-17