表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011022128.X

申请日：

2020-09-25

公开(公告)号：

CN111929310B

公开(公告)日：

2020-11-13

发明(设计)人：

董立超赵东峰艾立夫刘艺朱春霖刘宝山彭旭

申请人：

申请人地址：

261031 山东省潍坊市高新技术产业开发区东方路268号

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

G06N302 G06N308

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287

代理人：

梁馨怡

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20200925
2021-02-05	授权	授权
2022-11-29	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01N 21/88 登记生效日:20221117 变更事项:专利权人变更前权利人:歌尔股份有限公司变更后权利人:歌尔光学科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:261031 山东省潍坊市高新技术产业开发区东方路268号变更后权利人:261031 山东省潍坊市高新区清池街道永春社区惠贤路3999号歌尔光电产业园三期1号厂房
2020-11-13	公开	公开

共 50 条

[1]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

董立超 ;

赵东峰 ;

艾立夫 ;

刘艺 ;

朱春霖 ;

刘宝山 ;

彭旭 .

中国专利 :CN112883601A ,2021-06-01

[2]

亚表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

李晖 ;

徐召 ;

蔡敏 .

中国专利 :CN114878475A ,2022-08-09

[3]

材料表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

黄霄 ;

刘俊宏 ;

周子怡 .

中国专利 :CN110473197A ,2019-11-19

[4]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

左正新 ;

王飞亚 ;

汪顺利 ;

卢丹 ;

范秋敏 .

中国专利 :CN112669318A ,2021-04-16

[5]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

郎宁 ;

王飞 ;

邓栋 ;

高一鸣 ;

梁杰 ;

魏志豪 ;

胡月 ;

吕志愿 .

中国专利 :CN119904452B ,2025-07-15

[6]

表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

郎宁 ;

王飞 ;

邓栋 ;

高一鸣 ;

梁杰 ;

魏志豪 ;

胡月 ;

吕志愿 .

中国专利 :CN119904452A ,2025-04-29

[7]

表面缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

许高 ;

章锐 ;

毕海 ;

刘祥 ;

闫晓庆 .

中国专利 :CN118781113B ,2024-12-27

[8]

表面缺陷检测方法、设备及存储介质 [P].

许高 ;

章锐 ;

毕海 ;

刘祥 ;

闫晓庆 .

中国专利 :CN118781113A ,2024-10-15

[9]

检测装置、表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

杨泽国 ;

孙亚轩 ;

刘爱江 ;

杨喜峰 ;

李文 .

中国专利 :CN119757350B ,2025-12-16

[10]

检测装置、表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

杨泽国 ;

孙亚轩 ;

刘爱江 ;

杨喜峰 ;

李文 .

中国专利 :CN119757350A ,2025-04-04

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